[发明专利]电容性传感器装置及用于校准电容性传感器装置的方法有效

专利信息
申请号: 201280039515.1 申请日: 2012-06-28
公开(公告)号: CN103748789B 公开(公告)日: 2016-11-30
发明(设计)人: 阿尔乔姆·伊万诺夫 申请(专利权)人: 微晶片科技德国公司
主分类号: H03K17/955 分类号: H03K17/955
代理公司: 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人: 沈锦华
地址: 德国伊*** 国省代码: 德国;DE
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摘要:
搜索关键词: 电容 传感器 装置 用于 校准 方法
【权利要求书】:

1.一种用于接近及/或接触检测的电容性传感器装置,其包括至少一个产生器电极、至少一个测量电极(M)及至少一个校准电极(K),其中所述至少一个校准电极(K)以预定义距离布置于邻近于所述至少一个测量电极(M)处,其中所述至少一个测量电极(M)及所述至少一个校准电极(K)指派给所述产生器电极,其中可给所述至少一个产生器电极加载产生器电压(UGEN)且可给所述至少一个校准电极(K)加载校准电压(UKAL),且其中可使所述至少一个校准电极(K)至少在第一操作模式(B1)及第二操作模式(B2)中操作,其中

在所述操作模式(B1、B2)中的每一者中,所述校准电压(UKAL)处于接地电压(UGND)与所述产生器电压(UGEN)之间,且

在每一操作模式(B1、B2)中,所述校准电压(UKAL)是不同的。

2.根据权利要求1所述的电容性传感器装置,其包括评估装置,所述评估装置至少可与所述测量电极(M)及所述校准电极(K)耦合且经设计以

在所述第一操作模式(B1)中给所述校准电极(K)加载第一校准电压(UKAL1)且检测所述测量电极(M)与所述传感器装置的接地之间的第一电容,及

在所述第二操作模式(B2)中给所述校准电极(K)加载第二校准电压(UKAL2)且检测所述测量电极(M)与所述传感器装置的所述接地之间的第二电容。

3.根据前述权利要求中任一权利要求所述的电容性传感器装置,其中实质上按照所述测量电极(M)的形状调适所述校准电极(K)的形状。

4.根据前述权利要求中任一权利要求所述的电容性传感器装置,其中所述测量电极(M)及所述校准电极(K)布置于印刷电路板PCB上,且其中所述印刷电路板PCB包括在所述测量电极(M)与所述校准电极(K)之间的区域中的断流器CO。

5.根据前述权利要求中任一权利要求所述的电容性传感器装置,其中一个校准电极(K)指派给若干个测量电极(M)。

6.根据前述权利要求中任一权利要求所述的电容性传感器装置,其中所述产生器电极布置于所述印刷电路板的下侧处,且所述至少一个测量电极(M)及所述至少一个校准电极(K)布置于所述印刷电路板的上侧处。

7.一种用于校准电容性传感器装置的方法,其中所述传感器装置包括至少一个产生器电极、至少一个测量电极(M)及至少一个校准电极(K),其中所述至少一个测量电极(M)及所述至少一个校准电极(K)以预定义距离彼此邻近布置且指派给所述至少一个产生器电极,且其中

给所述至少一个产生器电极加载产生器电压(UGEN),

在第一操作模式(B1)中给所述校准电极(K)加载第一校准电压(UKAL1)且在所述测量电极(M)处分接第一传感器信号,

在第二操作模式(B2)中给所述校准电极(K)加载第二校准电压(UKAL2)且在所述测量电极(M)处分接第二传感器信号,

确定所述第一传感器信号与所述第二传感器信号之间的差(D),且

当所述差(D)的绝对值大于预定义阈值(X)时,执行对所述电容性传感器装置的所述校准。

8.根据权利要求7所述的方法,其中所述第一校准电压(UKAL1)经选择而不同于所述第二校准电压(UKAL2),且两个校准电压(UKAL1、UKAL2)经选择使得其各自处于接地电压(UGND)与所述产生器电压(UGEN)之间。

9.根据权利要求7或8所述的方法,其中实质上按照所述测量电极(M)的形状调适所述校准电极(K)的形状。

10.根据权利要求7到9中任一权利要求所述的方法,其中所述测量电极(M)及所述校准电极(K)布置于印刷电路板PCB上,其中所述印刷电路板PCB包括在所述测量电极(M)与所述校准电极(K)之间的区域中的断流器CO。

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