[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201280031587.1 申请日: 2012-09-24
公开(公告)号: CN103620776B 公开(公告)日: 2017-02-08
发明(设计)人: 永井纪行;土肥茂史 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L25/07;H01L25/18
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司11021 代理人: 李逸雪
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,其具备:

第1半导体芯片;

第2半导体芯片,其上表面与上述第1半导体芯片的上表面相向配置,比上述第1半导体芯片的尺寸小;

扩展部,其从上述第2半导体芯片的侧面朝向外侧而形成;和

布线基板,其上表面与上述第1半导体芯片的上表面相向配置,并且上表面与上述第2半导体芯片的下表面相向配置,

上述半导体装置还具备第1布线,该第1布线形成在上述第2半导体芯片的下表面以及上述扩展部的下表面上,并与上述布线基板连接。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

上述第1布线与上述布线基板经由凸起连接。

3.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其特征在于,

在上述布线基板的上表面的位于上述第2半导体芯片下的区域形成有凹部。

4.根据权利要求1~3的任一项所述的半导体装置,其特征在于,

上述第1半导体芯片与上述布线基板经由支柱而连接。

5.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

还具备:

第1过孔,其形成于上述扩展部,并贯通上述扩展部;和

第2布线,其形成于上述第2半导体芯片的上表面以及上述扩展部的上表面上,经由凸起而与上述第1半导体芯片连接,

上述第1过孔将上述第1布线与上述第2布线连接。

6.根据权利要求1或5所述的半导体装置,其特征在于,

还具备:

第2过孔,其形成于上述扩展部,并贯通上述扩展部;和

第3布线,其形成于上述扩展部的上表面上,经由凸起而与上述第1半导体芯片连接,

上述第2过孔将上述第1布线与上述第3布线连接。

7.根据权利要求5所述的半导体装置,其特征在于,

还具备:

第2过孔,其形成于上述扩展部,并贯通上述扩展部;

第3布线,其形成于上述扩展部的上表面上,经由凸起而与上述第1半导体芯片连接;和

第4布线,其形成于上述扩展部的下表面上,与上述布线基板连接,

上述第2过孔将上述第3布线与上述第4布线连接。

8.根据权利要求6所述的半导体装置,其特征在于,

上述第1布线与上述布线基板经由凸起而连接。

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