[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 201280031587.1 | 申请日: | 2012-09-24 |
公开(公告)号: | CN103620776B | 公开(公告)日: | 2017-02-08 |
发明(设计)人: | 永井纪行;土肥茂史 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | H01L25/065 | 分类号: | H01L25/065;H01L25/07;H01L25/18 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 李逸雪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
1.一种半导体装置,其具备:
第1半导体芯片;
第2半导体芯片,其上表面与上述第1半导体芯片的上表面相向配置,比上述第1半导体芯片的尺寸小;
扩展部,其从上述第2半导体芯片的侧面朝向外侧而形成;和
布线基板,其上表面与上述第1半导体芯片的上表面相向配置,并且上表面与上述第2半导体芯片的下表面相向配置,
上述半导体装置还具备第1布线,该第1布线形成在上述第2半导体芯片的下表面以及上述扩展部的下表面上,并与上述布线基板连接。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,
上述第1布线与上述布线基板经由凸起连接。
3.根据权利要求1或2所述的半导体装置,其特征在于,
在上述布线基板的上表面的位于上述第2半导体芯片下的区域形成有凹部。
4.根据权利要求1~3的任一项所述的半导体装置,其特征在于,
上述第1半导体芯片与上述布线基板经由支柱而连接。
5.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,
还具备:
第1过孔,其形成于上述扩展部,并贯通上述扩展部;和
第2布线,其形成于上述第2半导体芯片的上表面以及上述扩展部的上表面上,经由凸起而与上述第1半导体芯片连接,
上述第1过孔将上述第1布线与上述第2布线连接。
6.根据权利要求1或5所述的半导体装置,其特征在于,
还具备:
第2过孔,其形成于上述扩展部,并贯通上述扩展部;和
第3布线,其形成于上述扩展部的上表面上,经由凸起而与上述第1半导体芯片连接,
上述第2过孔将上述第1布线与上述第3布线连接。
7.根据权利要求5所述的半导体装置,其特征在于,
还具备:
第2过孔,其形成于上述扩展部,并贯通上述扩展部;
第3布线,其形成于上述扩展部的上表面上,经由凸起而与上述第1半导体芯片连接;和
第4布线,其形成于上述扩展部的下表面上,与上述布线基板连接,
上述第2过孔将上述第3布线与上述第4布线连接。
8.根据权利要求6所述的半导体装置,其特征在于,
上述第1布线与上述布线基板经由凸起而连接。
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