[发明专利]用于使用高速输入/输出接口进行测试的集成电路

说明书

相关申请

本申请涉及于2011年6月17日针对“FRAMEWORK AND PROTOCOL FOR UTILIZING HIGH-SPEED INPUT/OUTPUT INTERFACES FOR TEST CONTROL AND TEST DATA DELIVERY（用于利用高速输入/输出接口进行测试控制和测试数据递送的框架和协议）”提交的美国临时专利申请S/N.61/498,431并要求其优先权。

技术领域

本公开一般涉及电子设备。更具体地，本公开涉及用于使用高速输入/输出接口进行测试的集成电路。

背景

电子设备已经成为日常生活的一部分。电子设备的示例包括集成电路、蜂窝电话、智能电话、无线调制解调器、计算机、数字音乐播放器、全球定位系统（GPS）单元、个人数字助理、游戏设备等。电子设备如今被放置在从汽车到住房用锁等各种事物中。在过去的几年里电子设备的复杂度有了惊人的上升。例如，许多电子设备具有一个或多个帮助控制该设备的处理器，以及支持该处理器及支持该设备的其他部件的数个数字电路。

这种提升的复杂度已经导致增加了对能够测试集成电路和/或数字系统的测试的需求。测试可用于验证或测试设备的各个部分，诸如多个硬件、软件、或这两者的组合。

然而，测试集成电路需要测试资源，诸如测试装备和执行测试的时间。在一些情形中，对集成电路执行某些测试可能受限于特定的制造阶段和一次有限数量的集成电路。如可从此讨论中观察到的，有助于提升测试的可达性和/或速度的系统和方法可能是有益的。

概述

描述了被配置成用于进行测试的集成电路。该集成电路包括高速输入/输出接口。该集成电路还包括耦合到高速输入/输出接口的测试控制器。该集成电路还包括耦合到测试控制器的测试电路系统。测试控制器基于来自高速输入/输出接口的控制器协议测试信息来控制测试电路系统。测试控制器可以与高速输入/输出接口分开。

该集成电路还可包括耦合到测试控制器并且耦合到测试电路系统的测试接入端口。高速输入/输出接口可将高速输入/输出协议测试信息格式化为控制器协议测试信息。测试控制器可将控制器协议测试信息格式化为联合测试动作组协议测试信息，该联合测试动作组协议测试信息被提供给测试接入端口以控制测试电路系统。

测试控制器可将联合测试动作组协议测试结果格式化为控制器协议测试结果。高速输入/输出接口可将控制器协议测试结果格式化为高速输入/输出协议测试结果。

测试接入端口接口信号可在测试接入端口之前被截取。由测试接入端口提供的测试控制和数据信号可在测试接入端口之后被截取。

测试控制器可对测试电路系统中无法通过测试接入端口访问的一部分执行测试。测试电路系统可以是边界扫描寄存器、扫描链、寄存器和/或存储器。

控制器协议测试信息可包括重置消息、指令消息和/或数据消息。控制器协议测试信息可包括测试数据输入消息、测试模式选择消息和/或测试数据输出消息。控制器协议测试信息可包括包含目标测试接入端口状态、输入/输出字段和数据的消息。

高速输入/输出接口可以是通用串行总线（USB）接口。高速输入/输出接口可以是移动显示器数字接口（MDDI）。

控制器协议测试信息可以采用并行格式。控制器协议测试信息可以采用串行格式。

还描述了一种用于测试集成电路的方法。该方法包括在高速输入/输出接口处接收高速输入/输出协议测试信息。该方法还包括基于高速输入/输出协议测试信息来生成控制器协议测试信息。该方法进一步包括将控制器协议测试信息提供给测试控制器。该方法附加地包括基于来自高速输入/输出接口的控制器协议测试信息来控制测试电路系统。

还描述了一种用于测试集成电路的计算机程序产品。该计算机程序产品包括具有指令的非瞬态有形计算机可读介质。这些指令包括用于致使电子设备在高速输入/输出接口处接收高速输入/输出协议测试信息的代码。这些指令还包括用于致使电子设备基于高速输入/输出协议测试信息来生成控制器协议测试信息的代码。这些指令进一步包括用于致使电子设备将控制器协议测试信息提供给测试控制器的代码。这些指令附加地包括用于致使电子设备基于来自高速输入/输出接口的控制器协议测试信息来控制测试电路系统的代码。