[发明专利]用于使用高速输入/输出接口进行测试的集成电路

权利要求书

1.一种被配置成用于进行测试的集成电路，包括：

高速输入/输出接口；

耦合到所述高速输入/输出接口的测试控制器；以及

耦合到所述测试控制器的测试电路系统，其中所述测试控制器基于来自所述高速输入/输出接口的控制器协议测试信息来控制所述测试电路系统。

2.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，还包括耦合到所述测试控制器并且耦合到所述测试电路系统的测试接入端口。

3.如权利要求2所述的集成电路，其特征在于，所述高速输入/输出接口将高速输入/输出协议测试信息格式化成所述控制器协议测试信息，并且其中所述测试控制器将所述控制器协议测试信息格式化成联合测试动作组协议测试信息，所述联合测试动作组协议测试信息被提供给所述测试接入端口以控制所述测试电路系统。

4.如权利要求2所述的集成电路，其特征在于，所述测试控制器将联合测试动作组协议测试结果格式化成控制器协议测试结果，并且其中所述高速输入/输出接口将所述控制器协议测试结果格式化成高速输入/输出协议测试结果。

5.如权利要求2所述的集成电路，其特征在于，测试接入端口接口信号在所述测试接入端口之前被截取。

6.如权利要求2所述的集成电路，其特征在于，所述测试接入端口提供的测试控制和数据信号在所述测试接入端口之后被截取。

7.如权利要求2所述的集成电路，其特征在于，所述测试控制器对测试电路系统中无法通过所述测试接入端口访问的一部分执行测试。

8.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述控制器协议测试信息包括由重置消息、指令消息和数据消息构成的组中的至少一种消息。

9.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述控制器协议测试信息包括由测试数据输入消息、测试模式选择消息和测试数据输出消息构成的组中的至少一种消息。

10.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述控制器协议测试信息包括包含目标测试接入端口状态、输入/输出字段和数据的消息。

11.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述高速输入/输出接口是通用串行总线（USB）接口。

12.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述高速输入/输出接口是移动显示器数字接口（MDDI）。

13.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述测试电路系统是由边界扫描寄存器、扫描链、寄存器和存储器构成的组中的至少一个。

14.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述控制器协议测试信息采用并行格式。

15.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述控制器协议测试信息采用串行格式。

16.如权利要求1所述的集成电路，其特征在于，所述测试控制器与所述高速输入/输出接口分开。

17.一种用于测试集成电路的方法，包括：

在高速输入/输出接口处接收高速输入/输出协议测试信息；

基于所述高速输入/输出协议测试信息来生成控制器协议测试信息；

将所述控制器协议测试信息提供给测试控制器；以及

基于来自所述高速输入/输出接口的所述控制器协议测试信息来控制测试电路系统。

18.如权利要求17所述的方法，其特征在于，所述集成电路包括耦合到所述测试控制器并且耦合到所述测试电路系统的测试接入端口。

19.如权利要求18所述的方法，其特征在于，生成所述控制器协议测试信息包括将所述高速输入/输出协议测试信息格式化成所述控制器协议测试信息，并且其中所述方法还包括将所述控制器协议测试信息格式化成联合测试动作组协议测试信息，所述联合测试动作组协议测试信息被提供给所述测试接入端口以控制所述测试电路系统。

20.如权利要求18所述的方法，其特征在于，还包括将联合测试动作组协议测试结果格式化成控制器协议测试结果；以及将所述控制器协议测试结果格式化成高速输入/输出协议测试结果。