[发明专利]分类设备

权利要求书

1.一种用于将颗粒分类为质量等级的设备，包括：

测量装置（400），所述测量装置（400）用于确定所述颗粒的至少一个分析特性；

输送装置（300），所述输送装置（300）用于将所述颗粒输送经过所述测量装置；以及

分类装置（500），所述分类装置（500）操作地联接至所述测量装置（400），用于基于所述分析特性将所述颗粒分类为至少两个质量等级，

其特征在于，所述输送装置（300）包括构造成沿输送方向运动的输送表面，所述输送表面具有多个穿孔（314），以及所述输送装置还包括泵（130），所述泵（130）用于向所述穿孔施加压差，以使供给至所述输送装置的颗粒被抽吸至所述穿孔并且在所述输送表面上沿所述输送方向被输送经过所述测量装置（400）到达所述分类装置（500）。

2.根据权利要求1所述的设备，其中，所述输送装置包括限定所述可运动表面的环形输送带（310）。

3.根据权利要求2所述的设备，包括箱（320），所述箱向其底部开口，所述箱的底部被所述输送带（310）覆盖，所述箱连接至所述泵（130）以向所述箱（320）施加真空。

4.根据权利要求3所述的设备，其中，所述测量装置（400）的至少一部分和/或所述分类装置（500）的至少一部分被设置在所述箱的内部。

5.根据权利要求1所述的设备，其中，所述输送装置包括具有圆周表面的可旋转滚筒（330），所述圆周表面限定所述可运动表面。

6.根据权利要求5所述的设备，其中，所述滚筒连接至所述泵（130）以向所述滚筒（330）施加真空。

7.根据权利要求5或6所述的设备，其中，所述测量装置（400）的至少一部分和/或所述分类装置（500）的至少一部分被设置在所述滚筒（330）的内部。

8.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中，所述穿孔（314）被布置在沿所述输送方向延伸的多个平行列中。

9.根据前述权利要求中任一项所述的设备，还包括供给装置（100、200），所述供给装置（100、200）用于接收大量的所述颗粒，用于使所述颗粒单一化，以及用于将所述单一化的颗粒供给至所述输送装置（300）。

10.根据权利要求9所述的设备，其中，所述供给装置（100、200）包括环形供给带（210），所述环形供给带（210）构造成接收所述颗粒并且沿所述输送方向将所述颗粒输送至所述输送表面，以使所述颗粒能够被抽吸至所述输送表面的所述穿孔。

11.根据权利要求10所述的设备，其中，所述供给带（210）具有外表面，所述外表面具有沿所述输送方向延伸的多个平行凹槽，所述凹槽具有与所述输送表面的所述穿孔（314）之间的侧向距离相对应的侧向距离。

12.根据权利要求9至11中任一项所述的设备，还包括再循环管道（120），所述再循环管道（120）用于将未被抽吸至所述输送表面的颗粒输送回到所述供给装置（100、200）。

13.根据前述权利要求中任一项所述的设备，其中，所述测量装置（400）包括至少一个光源（411）和至少一个光检测器（421）。

14.根据权利要求13所述的设备，其中，所述光源（411）和光检测器（421）布置在所述输送表面的不同侧上，以便发出穿过所述穿孔（314）的光，所述光检测器（421）布置成接收透射穿过在所述输送表面上运动经过所述测量装置（400）的颗粒的光。

15.根据权利要求13所述的设备，其中，所述光源（411）和光检测器（412）布置在所述输送表面的相同侧上，所述光检测器（412）布置成接收从在所述输送表面上运动经过所述测量装置（400）的颗粒反射的光。

16.根据权利要求13至15中任一项所述的设备，其中，所述测量装置（400）包括多个光检测器（412），所述多个光检测器（412）沿着横向于所述输送方向延伸的横向方向布置，以便能够同时测量在不同横向位置中运动经过所述测量装置（400）的颗粒的分析特性。