[实用新型]一种电性能测试程控测量链路系统有效
申请号: | 201220749815.6 | 申请日: | 2012-12-26 |
公开(公告)号: | CN203012056U | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 张美安;周琛;朱成伟 | 申请(专利权)人: | 莱诺斯科技(北京)有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 100081 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 性能 测试 程控 测量 系统 | ||
1.一种电性能测试程控测量链路系统,其特征在于:包括上位机、FPGA控制模块、IO扩展模块、驱动模块、开关阵列,其中:
上位机:根据测试需求形成测量通道选择控制指令,依据PCI数据格式协议通过PCI接口传输到FPGA控制模块;
FPGA控制模块:包括PCI芯片、FPGA和TTL芯片,PCI芯片与上位机的PCI接口连接以接收上位机发送过来的指令,FPGA对指令进行解析并将指令进行缓存,TTL芯片与FPGA的输出引脚相连接并将FPGA缓存的指令通过I2C接口发送给IO扩展模块;
IO扩展模块:使用I2C接口对FPGA控制模块中TTL芯片的输出路数进行扩展;
驱动模块:采用达林顿晶体管阵列对经IO扩展模块扩展后的各路输出进行电流驱动;
开关阵列:是由继电器组成的矩阵阵列,每个行与列的交叉处都放置一个继电器,通过不同继电器的开通与关断形成不同的测试通道,每个继电器的通断根据解析后的测量通道选择控制指令确定。
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