[实用新型]半导体装置有效

专利信息
申请号: 201220688640.2 申请日: 2012-12-13
公开(公告)号: CN203103306U 公开(公告)日: 2013-07-31
发明(设计)人: 安藤孝由 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/78;H01L29/739
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 李亚;穆德骏
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

一种半导体装置,其特征在于,包括:

晶体管,具有栅极电极、第1电极和第2电极;以及

第1及第2保护电路,一端共同与所述栅极电极连接,另一端分别与所述第1电极及第2电极连接,

所述第1及第2保护电路分别构成于在一个场绝缘膜上分离形成的第1及第2多晶硅层内。

根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1保护电路包括:第1导电型的第1中央部,配置于所述第1多晶硅层的中央部;第2导电型的第1带状部,呈环状配置于该第1中央部的外侧;以及第1导电型的第2带状部,呈环状配置于该第1带状部的外侧,

所述第2保护电路包括:第1导电型的第2中央部,配置于所述第2多晶硅层的中央部;第2导电型的第3带状部,呈环状配置于该第2中央部的外侧;以及第1导电型的第4带状部,呈环状配置于该第3带状部的外侧,

将所述第1中央部及第2中央部通过栅极布线膜共同与所述栅极电极连接,将所述第2带状部与所述第1电极连接,将所述第4带状部与所述第2电极连接。

根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于,

所述栅极布线膜在与所述第1及第2多晶硅层重合的区域中具有栅极焊盘。

根据权利要求3所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1多晶硅层内的所述第2带状部在芯片边缘侧与所述第1电极连接。

根据权利要求1~4中任意一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1及第2保护电路的配置区域在将双方对接时大致呈正方形的形状。

根据权利要求5所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1中央部及第2中央部中的至少一方在从与基板垂直的方向观察时呈L字形状。

根据权利要求6所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1中央部及第2中央部中的另一方在从与基板垂直的方向观察时呈L字形状或者正方形的形状。

根据权利要求1~4中任意一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1保护电路在所述第1中央部与第2带状部之间还包括其他的环状的第1导电型的带状部及其他的环状的第2导电型的带状部,

所述第2保护电路在所述第2中央部与第4带状部之间还包括其他的环状的第1导电型的带状部及其他的环状的第2导电型的带状部。

根据权利要求1~4中任意一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述第1保护电路还具有在所述第2带状部的外侧呈环状配置的带状的扩散电阻,

所述第1电极取代所述第2带状部而与所述扩散电阻的外侧连接。

根据权利要求1~4中任意一项所述的半导体装置,其特征在于,

所述晶体管是MOSFET或绝缘栅极双极晶体管。

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