[实用新型]半导体装置有效
申请号: | 201220688640.2 | 申请日: | 2012-12-13 |
公开(公告)号: | CN203103306U | 公开(公告)日: | 2013-07-31 |
发明(设计)人: | 安藤孝由 | 申请(专利权)人: | 瑞萨电子株式会社 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/78;H01L29/739 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 李亚;穆德骏 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
一种半导体装置,其特征在于,包括:
晶体管,具有栅极电极、第1电极和第2电极;以及
第1及第2保护电路,一端共同与所述栅极电极连接,另一端分别与所述第1电极及第2电极连接,
所述第1及第2保护电路分别构成于在一个场绝缘膜上分离形成的第1及第2多晶硅层内。
根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1保护电路包括:第1导电型的第1中央部,配置于所述第1多晶硅层的中央部;第2导电型的第1带状部,呈环状配置于该第1中央部的外侧;以及第1导电型的第2带状部,呈环状配置于该第1带状部的外侧,
所述第2保护电路包括:第1导电型的第2中央部,配置于所述第2多晶硅层的中央部;第2导电型的第3带状部,呈环状配置于该第2中央部的外侧;以及第1导电型的第4带状部,呈环状配置于该第3带状部的外侧,
将所述第1中央部及第2中央部通过栅极布线膜共同与所述栅极电极连接,将所述第2带状部与所述第1电极连接,将所述第4带状部与所述第2电极连接。
根据权利要求2所述的半导体装置,其特征在于,
所述栅极布线膜在与所述第1及第2多晶硅层重合的区域中具有栅极焊盘。
根据权利要求3所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1多晶硅层内的所述第2带状部在芯片边缘侧与所述第1电极连接。
根据权利要求1~4中任意一项所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1及第2保护电路的配置区域在将双方对接时大致呈正方形的形状。
根据权利要求5所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1中央部及第2中央部中的至少一方在从与基板垂直的方向观察时呈L字形状。
根据权利要求6所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1中央部及第2中央部中的另一方在从与基板垂直的方向观察时呈L字形状或者正方形的形状。
根据权利要求1~4中任意一项所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1保护电路在所述第1中央部与第2带状部之间还包括其他的环状的第1导电型的带状部及其他的环状的第2导电型的带状部,
所述第2保护电路在所述第2中央部与第4带状部之间还包括其他的环状的第1导电型的带状部及其他的环状的第2导电型的带状部。
根据权利要求1~4中任意一项所述的半导体装置,其特征在于,
所述第1保护电路还具有在所述第2带状部的外侧呈环状配置的带状的扩散电阻,
所述第1电极取代所述第2带状部而与所述扩散电阻的外侧连接。
根据权利要求1~4中任意一项所述的半导体装置,其特征在于,
所述晶体管是MOSFET或绝缘栅极双极晶体管。
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