[实用新型]用于芯片的测试控制电路

说明书

技术领域

本实用新型的实施例总体上涉及电路领域，更具体地，涉及用于芯片的测试控制电路。

背景技术

在芯片进行封装和投入使用之前，通常需要对芯片的各种电特性进行测试，例如测试芯片中各个元件的电阻、电容、功率等情况。已知的是，在芯片中除了具有实现其常规功能所需的电路部分之外，通常还包括一块用于对芯片进行上述测试的测试电路。传统上，芯片具有专门的管脚用于将测试控制信号馈送至测试电路，以便控制该测试电路进入和退出测试模式以及执行各种测试操作。

然而，很多常用的芯片的管脚数目是有限的。这样的芯片只包含较少的管脚，甚至某些芯片只具有用于连接电源和地的两个管脚。在这种情况下，很难甚至无法向芯片输入测试控制信号，从而也就无法对测试电路进行有效的控制以执行测试功能。

实用新型内容

为了解决现有技术中的上述问题以及其他潜在的问题，本实用新型的实施例提供一种用于芯片的测试控制电路。

在本实用新型的一个方面，提供一种用于芯片的测试控制电路。该测试控制电路被包含在芯片中并且包括：第一端子，连接至芯片的电源端子；第二端子，连接至芯片中的测试电路，测试电路操作以测试芯片的电特性；以及控制模块，操作以基于经由第一端子接收的芯片的电源电压而产生至少一个测试控制信号，并且经由第二端子向测试电路输出至少一个测试控制信号以控制测试电路的操作。

根据某些实施例，该测试控制电路进一步包括：比较器，包括同相输入端、反相输入端和输出端，同相输入端连接至第一端子和参考电压中的一个，反相输入端连接至第一端子和参考电压中的另一个，输出端子连接至控制模块，比较器操作以通过将电源电压与参考电压进行比较而产生电源电压的图案，并且经由输出端子向控制模块输出电源电压的图案，其中控制模块操作以根据电源电压的图案而产生至少一个测试控制信号。

根据某些实施例，该测试控制电路进一步包括：分压模块，连接在第一端子与比较器的同相输入端或反相输入端之间，操作以按照预定比例降低电源电压，并且将降低的电源电压馈送至比较器以便与按照预定比例降低的基准电压进行比较。

根据某些实施例，该测试控制电路进一步包括：第三端子，连接至时钟源，时钟源操作以产生时钟信号；其中控制模块操作以基于电源电压和经由第三端子从时钟源接收的时钟信号而产生至少一个测试控制信号。

根据某些实施例，控制模块包括以下至少一个：脉冲宽度确定模块，操作以利用经由第三端子接收的时钟信号确定电源电压的脉冲宽度信息；以及脉冲占空比确定模块，操作以利用经由第三端子接收的时钟信号确定电源电压的脉冲占空比信息。

根据某些实施例，第三端子连接至芯片内部的时钟源，或者经由芯片的附加端子而连接至芯片外部的时钟源。

根据某些实施例，控制模块操作以响应于电源电压处于芯片的非额定电压水平而产生至少一个测试控制信号。

在本实用新型的第二方面，提供一种芯片。该芯片包括：电源端子，连接至用于为芯片供电的电源；用于测试芯片的电特性的测试电路；以及上文概述的测试控制电路。

根据某些实施例，该芯片进一步包括：时钟源，连接至测试控制电路，并且操作以产生时钟信号并且将时钟信号馈送给测试控制电路。

根据某些实施例，该芯片进一步包括：附加端子，连接至外部时钟源和测试控制电路，并且操作以将外部时钟源产生的时钟信号馈送给测试控制电路。

通过下文描述将会理解，利用本实用新型的实施例，允许根据芯片的电源电压中携带的信息生成控制信息，以控制测试电路进入或离开测试模式以及执行各种测试功能。以此方式，有效地解决了由于管脚数目有限给芯片测试带来的不便。

附图说明

通过参考附图阅读下文的详细描述，本实用新型实施例的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本实用新型的若干实施例，其中：

图1示出了根据本实用新型一个示例性实施例的芯片的示意性框图；

图2示出了根据本实用新型一个示例性实施例的芯片测试控制电路的示意性框图；

图3示出了根据本实用新型一个示例性实施例的芯片测试控制电路的示意性框图；

图4示出了根据本实用新型一个示例性实施例的芯片测试控制电路的示意性框图；

图5示出了根据本实用新型一个示例性实施例的芯片的示意性框图；

图6示出了根据本实用新型一个示例性实施例的芯片的示意性框图；以及

图7示出了根据本实用新型一个示例性实施例的芯片测试控制方法的示意性流程图。

在附图中，相同的标号指代相同或相似的元件。

具体实施方式