[实用新型]用于芯片的测试控制电路

权利要求书

1.一种用于芯片的测试控制电路，其特征在于，所述测试控制电路被包含在所述芯片中，并且包括：

第一端子，连接至所述芯片的电源端子；

第二端子，连接至所述芯片中的测试电路，所述测试电路操作以测试所述芯片的电特性；以及

控制模块，操作以基于经由所述第一端子接收的所述芯片的电源电压而产生至少一个测试控制信号，并且经由所述第二端子向所述测试电路输出所述至少一个测试控制信号以控制所述测试电路的操作。

2.根据权利要求1所述的测试控制电路，其特征在于，进一步包括：

比较器，包括同相输入端、反相输入端和输出端，所述同相输入端连接至所述第一端子和参考电压中的一个，所述反相输入端连接至所述第一端子和所述参考电压中的另一个，所述输出端子连接至所述控制模块，所述比较器操作以通过将所述电源电压与所述参考电压进行比较而产生所述电源电压的图案，并且经由所述输出端子向所述控制模块输出所述电源电压的图案，

其中所述控制模块操作以根据所述电源电压的图案而产生所述至少一个测试控制信号。

3.根据权利要求2所述的测试控制电路，其特征在于，进一步包括：

分压模块，连接在所述第一端子与所述比较器的所述同相输入端或所述反相输入端之间，操作以按照预定比例降低所述电源电压，并且将降低的电源电压馈送至所述比较器以便与按照所述预定比例降低的所述基准电压进行比较。

4.根据权利要求1所述的测试控制电路，其特征在于，进一步包括：

第三端子，连接至时钟源，所述时钟源操作以产生时钟信号；

其中所述控制模块操作以基于所述电源电压和经由所述第三端子从所述时钟源接收的所述时钟信号而产生所述至少一个测试控制信号。

5.根据权利要求4所述的测试控制电路，其特征在于，所述控制模块包括以下至少一个：

脉冲宽度确定模块，操作以利用经由所述第三端子接收的所述时钟信号确定所述电源电压的脉冲宽度信息；以及

脉冲占空比确定模块，操作以利用经由所述第三端子接收的所述时钟信号确定所述电源电压的脉冲占空比信息。

6.根据权利要求4所述的测试控制电路，其特征在于，所述第三端子连接至所述芯片内部的时钟源，或者经由所述芯片的附加端子而连接至所述芯片外部的时钟源。

7.根据权利要求1-6任一项所述的测试控制电路，其特征在于，所述控制模块操作以响应于所述电源电压处于所述芯片的非额定电压水平而产生所述至少一个测试控制信号。

8.一种芯片，其特征在于，所述芯片包括：

电源端子，连接至用于为所述芯片供电的电源；

用于测试所述芯片的电特性的测试电路；以及

根据权利要求1-7任一项所述的测试控制电路。

9.根据权利要求8所述的芯片，其特征在于，进一步包括：

时钟源，连接至所述测试控制电路，并且操作以产生时钟信号并且将所述时钟信号馈送给所述测试控制电路。

10.根据权利要求8所述的芯片，其特征在于，进一步包括：

附加端子，连接至外部时钟源和所述测试控制电路，并且操作以将所述外部时钟源产生的时钟信号馈送给所述测试控制电路。