[实用新型]一种硅PIN半导体区域γ辐射监测仪有效
申请号: | 201220569879.8 | 申请日: | 2012-11-01 |
公开(公告)号: | CN202975342U | 公开(公告)日: | 2013-06-05 |
发明(设计)人: | 靳根;徐园;王希涛;陈法国;刘倍 | 申请(专利权)人: | 中国辐射防护研究院 |
主分类号: | G01T1/24 | 分类号: | G01T1/24 |
代理公司: | 北京天悦专利代理事务所(普通合伙) 11311 | 代理人: | 田明;任晓航 |
地址: | 030006 *** | 国省代码: | 山西;14 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 pin 半导体 区域 辐射 监测 | ||
技术领域
本实用新型涉及辐射监测技术,具体涉及一种硅PIN半导体区域γ辐射监测仪。
背景技术
目前,用于区域γ辐射监测的设备主要有电离室型、GM计数管型和半导体型探测器。三类探测器各有特点:电离室的线性范围宽,能量响应较好,但性能易受外部环境条件的影响;GM计数管的灵敏度高,工艺简单,价格低廉,环境适应性强,但存在能量响应差、死时间长的缺点;半导体探测器的体积小,时间响应快,而耐辐射能力相对较弱。
硅PIN二极管是电离辐射测量中常用的一种半导体器件。硅PIN二极管在已掺杂的P型和N型硅半导体材料之间加入一层高阻的本征半导体(I区),使其具有结电容小、时间响应快、漏电流小、体积小、室温工作、价格低廉等优点。
实用新型内容
本实用新型的目的在于利用硅PIN二极管的特点,提供一种以硅PIN二极管为探测器的区域γ辐射监测仪,使仪器具有更大范围量程、更好的能量响应,以及更高的安全性。
本实用新型的技术方案如下:一种硅PIN半导体区域γ辐射监测仪,包括探测装置,以及与探测装置相连接的现场处理和显示单元,其中,所述的探测装置包括设置在壳体内部的硅PIN二极管探测器,所述的硅PIN二极管探测器包括一个用于量程高端测量的低敏二极管,以及多个用于量程低端测量的高敏二极管,多个高敏二极管以低敏二极管为中心对称设置在电路板上。
进一步,如上所述的硅PIN半导体区域γ辐射监测仪,其中,所述的探测装置的壳体为双层组合结构,外层为铝壳,内层为铜壳。
进一步,如上所述的硅PIN半导体区域γ辐射监测仪,其中,所述的现场处理和显示单元内分割为多个腔体,隔离放置电路模块。
进一步,如上所述的硅PIN半导体区域γ辐射监测仪,其中,所述的现场处理和显示单元的电路模块与探测装置之间设有电磁隔离腔体。
进一步,如上所述的硅PIN半导体区域γ辐射监测仪,其中,所述的现场处理和显示单元内设有电源模块和接口模块;所述的接口模块包括4~20mA输入输出接口、隔离485接口、隔离继电器接口。
本实用新型的有益效果如下:本实用新型采用硅PIN二极管为探测器,主要由探测装置、现场处理和显示单元组成,具有量程范围大、能量响应好、可靠性高、维修方便等优点。探测装置组合使用不同灵敏度的探测器来扩大量程范围,并通过硬补偿的方式优化探测器的能量响应。现场处理和显示单元采用模块化设计,能够实现基本参数设置、测量数据实时显示、存储和传输、在线测试、声光报警等功能。
附图说明
图1为本实用新型的整体结构以及现场处理和显示单元的内部结构示意图;
图2为探测装置的内部结构示意图;
图3为探测装置中探测器的平面布置示意图。
具体实施方式
下面结合附图和实施例对本实用新型进行详细的描述。
本实用新型采用硅PIN二极管为探测器,将嵌入式系统用于现场处理和显示单元,主要由探测装置1、现场处理和显示单元2、壳体及辅助器件组成,见图1。
探测装置1的内部结构如图2、图3所示,包括设置在壳体内部的硅PI N二极管探测器,所述的硅PIN二极管探测器包括一个用于量程高端测量的低敏二极管8,以及多个用于量程低端测量的高敏二极管9,多个高敏二极管9以低敏二极管8为中心对称设置在电路板10上,各层电路板之间设置接线柱11。本事实例中共设置四个高敏二极管9,围绕低敏二极管8对称设置。
由于探测器选用硅PIN二极管,组合使用不同灵敏度的二极管来扩大量程范围,使其达到6个量级的跨度。低敏二极管8用于量程高端的测量;四个高敏二极管9对称放置用于量程低端的测量,这样在提高量程低端灵敏度的同时保证探测器有较好的角响应。对探测器进行温度补偿,根据温度传感器的实时测量结果,修正探测器的监测数据,降低探测器响应的温度相关性。
探测装置1的壳体为双层组合结构,外层为铝壳12,内层为铜壳13,通过硬补偿的方式展平探测器对γ射线的能量响应。补偿片采用铜片和铝片的组合形式,整体包裹探测器及其信号放大电路。组合补偿片与电路结构构成一个连续封闭的空间,既可以补偿、优化探测器的能量响应,又可以起到电磁屏蔽的作用并实现避光效果,提高监测仪的电磁兼容性能,屏蔽可见光对探测器的干扰。
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