[实用新型]用于封装组件边框的工艺装置有效

专利信息
申请号: 201220546526.6 申请日: 2012-10-23
公开(公告)号: CN202839720U 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 李超 申请(专利权)人: 英利能源(中国)有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;G01N21/89
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明;张永明
地址: 071051 河*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 用于 封装 组件 边框 工艺 装置
【权利要求书】:

1.一种用于封装组件边框的工艺装置,包括传输装置(40),其特征在于,所述工艺装置还包括:反射装置(20),所述反射装置(20)设置在所述传输装置(40)的至少一侧以将所述组件边框的需检测部位朝向检测位置反射成像。

2.根据权利要求1所述的工艺装置,其特征在于,所述反射装置(20)设置在所述传输装置(40)的下方,并与所述组件边框的需检测的两个相对的边沿对应设置。

3.根据权利要求1所述的工艺装置,其特征在于,所述反射装置(20)的反射面朝向所述传输装置(40)的外侧倾斜。

4.根据权利要求1所述的工艺装置,其特征在于,还包括设置在所述传输装置(40)下方的固定梁(30),所述反射装置(20)设置在所述固定梁(30)上。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的工艺装置,其特征在于,所述反射装置(20)为两个,两个所述反射装置(20)的沿传输方向的长度大于或等于位于所述传输装置(40)上的所述组件边框的沿传输方向的长度。

6.根据权利要求1所述的工艺装置,其特征在于,还包括:

支撑装置(11),支撑在所述反射装置(20)的下方;

限位装置(12),设置在所述支撑装置(11)的一侧并支撑设置在所述反射装置(20)的端面下方。

7.根据权利要求6所述的工艺装置,其特征在于,所述支撑装置(11)为第一楔形块,所述第一楔形块的斜面形成支撑所述反射装置(20)的底面的支撑面;所述限位装置(12)为第二楔形块,所述第二楔形块的斜面形成与所述反射装置的端面接触以对所述反射装置进行限位的限位面。

8.根据权利要求6或7所述的工艺装置,其特征在于,还包括设置在所述传输装置(40)下方的固定梁(30),所述支撑装置(11)和限位装置(12)均固定设置在所述固定梁(30)上。

9.根据权利要求1所述的工艺装置,其特征在于,还包括:朝向所述传输装置(40)设置的用于检测所述组件边框是否到达指定位置的传感装置。

10.根据权利要求1所述的工艺装置,其特征在于,所述反射装置(20)所在的检测工位位于用于组装所述组件边框的组装工位的下游。

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