[实用新型]一种半导体测试分选计数装置

权利要求书

1.一种半导体测试分选计数装置，包括有测试主机，各分选桶，测试头，分选导管，振动盘，半导体分立器件经振动盘排序，顺序进入测试头进行品质测试、由测试主机判别分类，经分选导管送入各分选桶；其特征在于：增设有计数器及与之信号连接的多个感应探头，计数器的感应探头分别设置在各分选桶内，且计数器通过信号控制线与测试主机连接。

2.根据权利要求1所述的分选计数装置，其特征在于：所述的计数器的感应探头采用电磁线圈探头，对落入分选桶内的半导体分立器计数累加。

3.根据权利要求1或2所述的分选计数装置，其特征在于：所述的计数器在某项分类达到设定值时，计数器发出报警信号，并发出一个停止信号给测试主机，停止测试。