[实用新型]一种磁性材料屏蔽性能自评估装置有效

专利信息
申请号: 201220483064.8 申请日: 2012-09-20
公开(公告)号: CN202770984U 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 徐振;来磊 申请(专利权)人: 上海市计量测试技术研究院
主分类号: G01R33/16 分类号: G01R33/16
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁性材料 屏蔽 性能 评估 装置
【权利要求书】:

1.一种磁性材料屏蔽性能自评估装置,其特征在于,包括:

磁化电源;

电阻,所述电阻与磁化电源连接;

电压表,所述电压表与所述电阻并联;

亥姆霍兹电流线圈,所述亥姆霍兹电流线圈与所述电阻连接;

支架,所述支架上放置有屏蔽材料;

第一探测线圈和第二探测线圈,所述第一探测线圈和第二探测线圈均与支架连接;

第一数据采集器和第二数据采集器,其中,所述第一数据采集器和第一探测线圈连接,所述第二数据采集器和第二探测线圈连接;

电脑,所述电脑与所述第一数据采集器和第二数据采集器连接;及

退磁电源,所述退磁电源通过导线与屏蔽材料连接。

2.根据权利要求1所述的磁性材料屏蔽性能自评估装置,其特征在于,所述磁化电源、所述电阻和所述亥姆霍兹电流线圈形成有第二磁场。

3.根据权利要求2所述的磁性材料屏蔽性能自评估装置,其特征在于,所述第二磁场经过屏蔽材料形成有第一磁场。

4.根据权利要求3所述的磁性材料屏蔽性能自评估装置,其特征在于,所述第一探测线圈探测第一磁场;所述第二探测线圈探测第二磁场;

5.根据权利要求1所述的磁性材料屏蔽性能自评估装置,其特征在于,所述磁化电源的电流波形的失真小于等于2%。

6.根据权利要求1所述的磁性材料屏蔽性能自评估装置,其特征在于,所述亥姆霍兹电流线圈为圆形或方形,所述亥姆霍兹电流线圈直径是屏蔽材料的直径的三倍以上;所述亥姆霍兹电流线圈中的导线自身成对交叉。

7.根据权利要求1所述的磁性材料屏蔽性能自评估装置,其特征在于,所述支架具有升降和旋转0度至360度的能力。

8.根据权利要求1所述的磁性材料屏蔽性能自评估装置,其特征在于,所述第一探测线圈和第二探测线圈的匝面积均为2×104cm2匝至10×104cm2匝。

9.根据权利要求8所述的磁性材料屏蔽性能自评估装置,其特征在于,所述第一探测线圈、第二探测线圈、亥姆霍兹电流线圈和屏蔽材料的中心共轴。

10.根据权利要求9所述的磁性材料屏蔽性能自评估装置,其特征在于,所述第一探测线圈、第二探测线圈、亥姆霍兹电流线圈和支架均为无磁材料。

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