[实用新型]一种半导体引线框架与下模间距镶件的配合结构有效

专利信息
申请号: 201220440693.2 申请日: 2012-08-31
公开(公告)号: CN202816928U 公开(公告)日: 2013-03-20
发明(设计)人: 刘思勇 申请(专利权)人: 杰群电子科技(东莞)有限公司
主分类号: H01L23/495 分类号: H01L23/495;H01L23/31;B29C45/14
代理公司: 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 代理人: 雷利平
地址: 523750 广东省东莞市黄江镇裕元工*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体 引线 框架 间距 配合 结构
【权利要求书】:

1.一种半导体引线框架与下模间距镶件的配合结构,包括引线框架和下模间距镶件,所述引线框架包括头部连杆和管脚连杆,其特征在于:所述下模间距镶件的一侧设有凹槽,所述头部连杆和所述凹槽配合设置。

2.根据权利要求1所述的一种半导体引线框架与下模间距镶件的配合结构,其特征在于:所述头部连杆的长度和所述凹槽的深度均为0.2-0.35mm。

3.根据权利要求2所述的一种半导体引线框架与下模间距镶件的配合结构,其特征在于:所述头部连杆的长度和所述凹槽的深度均为0.28mm。

4.根据权利要求1所述的一种半导体引线框架与下模间距镶件的配合结构,其特征在于:所述管脚连杆侧边为曲折形状。

5.根据权利要求1所述的一种半导体引线框架与下模间距镶件的配合结构,其特征在于:所述管脚连杆宽度为0.78mm。

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