[实用新型]一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种支撑装置，特别涉及一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架。

背景技术

用于校准瞬变电磁场的场均匀性的系统通常需要测试多个位置。校准瞬变电磁场的场均匀性时，不但需要支架支撑和固定测试探头，而且需要通过支架调节测试探头的位置和角度。具体地，校准瞬变电磁场的场均匀性时，通常需要通过调节支架来改变固定有探头的测试杆的角度和长度，甚至需要通过调节支架实现测试杆绕固定轴的转动。现有技术中的支架都不能直接实现上述功能，因此在用于校准瞬变电磁场的场均匀性时非常不便。

目前，非常需要一种能够用于校准瞬变电磁场的场均匀性的支架。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架。

本实用新型提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架包括底座、转轴、圆拱形的第一拱衬、圆拱形的第二拱衬、第一测试杆、第二测试杆、第一旋钮、第二旋钮、第一探头固定装置和第二探头固定装置；

所述底座的上表面设有凸起，所述转轴固定于所述凸起上，所述第一拱衬和所述第二拱衬设于所述底座的上表面，且所述凸起和所述转轴穿过所述第一拱衬和所述第二拱衬的中空部分，所述第一拱衬所在的平面和所述第二拱衬所在的平面分别与所述底座的上表面垂直；

所述第一测试杆和所述第二测试杆的底端分别呈“h”字形，所述第一测试杆和所述第二测试杆的底端分别与所述转轴铰接，且所述第一测试杆和所述第二测试杆分别能够绕所述转轴转动，所述第一拱衬被设置为穿过所述第一测试杆的底端的缺口，所述第二拱衬被设置为穿过所述第二测试杆的底端的缺口；

所述第一拱衬上设有圆拱形的第一凹槽，所述第一旋钮上设有螺纹，所述第一测试杆底端的第二侧板上设有与所述第一旋钮配合的螺纹，所述第一旋钮穿过所述第一测试杆底端的第一侧板和所述第一凹槽与所述第一测试杆底端的第二侧板配合，通过旋紧所述第一旋钮能够使所述第一测试杆的位置固定；

所述第二拱衬上设有圆拱形的第二凹槽，所述第二旋钮上设有螺纹，所述第二测试杆底端的第四侧板上设有与所述第二旋钮配合的螺纹，所述第二旋钮穿过所述第二测试杆底端的第三侧板和所述第二凹槽与所述第二测试杆底端的第四侧板配合，通过旋紧所述第二旋钮能够使所述第二测试杆的位置固定；

所述第一探头固定装置设于所述第一测试杆上；所述第二探头固定装置设于所述第二测试杆上，所述第一探头固定装置能够沿所述第一测试杆自由滑动，所述第二探头固定装置能够沿所述第二测试杆自由滑动，所述第一探头固定装置上设有第三旋钮，所述第二探头固定装置上设有第四旋钮，通过旋紧所述第三旋钮能够使所述第一探头固定装置的位置固定，通过旋紧所述第四旋钮能够使所述第二探头固定装置的位置固定。

优选地，所述第一拱衬和所述第二拱衬上分别设有角度刻度。

优选地，所述第一测试杆的底端设有第一角度观察窗，所述第二测试杆的底端设有第二角度观察窗。

优选地，所述第一测试杆和所述第二测试杆上分别设有长度刻度。

优选地，所述第一探头固定装置上设有第一长度观察窗，所述第二探头固定装置上设有第二长度观察窗。

优选地，所述凸起呈圆拱形。

本实用新型具有如下有益效果：

(1)当校准瞬变电磁场的场均匀性的系统中采用所述支架时，所述支架不仅能够用于支撑和固定探头，而且能够用于调节探头的位置和角度；

(2)所述支架对探头的位置和角度的调节精度高；

(3)所述支架制作成本低，使用方便。

附图说明

图1为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的示意图；

图2为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第一拱衬的示意图；

图3为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第二拱衬的示意图；

图4为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第一测试杆的侧视图；

图5为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第一测试杆的正视图；

图6为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第二测试杆的侧视图；

图7为本实用新型实施例提供的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架的第二测试杆的正视图。

具体实施方式

下面结合附图及实施例对本实用新型的内容作进一步的描述。