[实用新型]一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架

权利要求书

1.用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，

该支架包括底座(1)、转轴(2)、圆拱形的第一拱衬(31)、圆拱形的第二拱衬(32)、第一测试杆(41)、第二测试杆(42)、第一旋钮(51)、第二旋钮(52)、第一探头固定装置(61)和第二探头固定装置(62)；

所述底座(1)的上表面设有凸起(7)，所述转轴(2)固定于所述凸起(7)上，所述第一拱衬(31)和所述第二拱衬(32)设于所述底座(1)的上表面，且所述凸起(7)和所述转轴(2)穿过所述第一拱衬(31)和所述第二拱衬(32)的中空部分，所述第一拱衬(31)所在的平面和所述第二拱衬(32)所在的平面分别与所述底座(1)的上表面垂直；

所述第一测试杆(41)和所述第二测试杆(42)的底端分别呈“h”字形，所述第一测试杆(41)和所述第二测试杆(42)的底端分别与所述转轴(2)铰接，且所述第一测试杆(41)和所述第二测试杆(42)分别能够绕所述转轴(2)转动，所述第一拱衬(31)被设置为穿过所述第一测试杆(41)的底端的缺口(412)，所述第二拱衬(32)被设置为穿过所述第二测试杆(42)的底端的缺口(422)；

所述第一拱衬(31)上设有圆拱形的第一凹槽(311)，所述第一旋钮(51)上设有螺纹，所述第一测试杆(41)底端的第二侧板(414)上设有与所述第一旋钮(51)配合的螺纹，所述第一旋钮(51)穿过所述第一测试杆(41)底端的第一侧板(413)和所述第一凹槽(311)与所述第一测试杆(41)底端的第二侧板(414)配合，通过旋紧所述第一旋钮(51)能够使所述第一测试杆(41)的位置固定；

所述第二拱衬(32)上设有圆拱形的第二凹槽(321)，所述第二旋钮(52)上设有螺纹，所述第二测试杆(42)底端的第四侧板(424)上设有与所述第二旋钮(52)配合的螺纹，所述第二旋钮(52)穿过所述第二测试杆(42)底端的第三侧板(423)和所述第二凹槽(321)与所述第二测试杆(42)底端的第四侧板(424)配合，通过旋紧所述第二旋钮(52)能够使所述第二测试杆(42)的位置固定；

所述第一探头固定装置(61)设于所述第一测试杆(41)上；所述第二探头固定装置(62)设于所述第二测试杆(42)上，所述第一探头固定装置(61)能够沿所述第一测试杆(41)自由滑动，所述第二探头固定装置(62)能够沿所述第二测试杆(42)自由滑动，所述第一探头固定装置(61)上设有第三旋钮(611)，所述第二探头固定装置(62)上设有第四旋钮(621)，通过旋紧所述第三旋钮(611)能够使所述第一探头固定装置(61)的位置固定，通过旋紧所述第四旋钮(621)能够使所述第二探头固定装置(62)的位置固定。

2.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述第一拱衬(31)和所述第二拱衬(32)上分别设有角度刻度。

3.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述第一测试杆(41)的底端设有第一角度观察窗(411)，所述第二测试杆(42)的底端设有第二角度观察窗(421)。

4.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述第一测试杆(41)和所述第二测试杆(42)上分别设有长度刻度。

5.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述第一探头固定装置(61)上设有第一长度观察窗(612)，所述第二探头固定装置(62)上设有第二长度观察窗(622)。

6.根据权利要求1所述的用于校准瞬变电磁场场均匀性的支架，其特征在于，所述凸起(7)呈圆拱形。