[实用新型]面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统

说明书

技术领域

本实用新型是有关一种面板检测装置，尤其指一种可以让被自动判别有瑕疵的面板，被作业人员处置时有清晰方便的瑕疵显示标注方式，和方便后续对瑕疵面板进行处置的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统。

背景技术

按，显示面板于生产及移动时，难免于表面上会有刮伤或脏污(particle)，但是该刮伤或脏污将会影响面板的显示性能，甚至引起用户的不悦而被退货。因此，面板于出厂前通常都会进行刮伤或脏污的检测。

公知的第一种面板刮伤或脏污的检测装置主要是将被测面板放入自动光学检测(AOI)机台中，利用光学镜头和相机，自动检查系统，将待测对象上的瑕疵显示在计算机上，并将脏污与被测物相对位置，给一组参数来做为脏污的定位。公知的另一种面板刮伤或脏污的检测装置主要是将被测面板放AOI机台中，利用光学镜头和相机，自动检查系统，将对象上的瑕疵显示在计算机上，并将瑕疵在被待测物位置附近以喷墨方式定位。

公知的第一种面板刮伤或脏污的检测装置由于操作AOI机台的人员与清洁脏污的人员并不一定是同一位，目前脏污只是显示相对位置在计算机上，作业人员必须在AOI机台上清洁(因为有相对位置)，如果待测对象离开AOI机台，因为没有明确标示位置，瑕疵并不容易被精确定义，所以容易被误判，尤其当瑕疵有一个以上时。

请一并参照图1(a)～1(c)，其中，图1(a)绘示公知的面板检测装置于检测到刮伤或脏污等瑕疵后进行喷墨定位的示意图；图1(b)绘示公知的面板检测装置于喷墨定位后的剖面示意图；图1(c)绘示公知的面板检测装置于喷墨定位及抛光后的剖面示意图。如图所示，公知的第二种面板刮伤或脏污的检测装置由于AOI机台有利用喷墨110喷在瑕疵附近的待测对象100表面来标示瑕疵位置(如图1(a)所示)，因此，瑕疵可以被精确定义，所以作业人员容易辨识，尤其是瑕疵有一个以上时。但是，喷墨110本身又是另一种瑕疵，作业人员在没有适合的工具下并不能百分之百确定将喷墨110与瑕疵清洁干净。再者，喷墨110如果碰到待测对象100的缺陷是刮伤120时，喷墨110的油墨会流到刮伤120的刮痕中(如图1(b)及图1(c)所示)，反而更不易清洁与更突瑕疵位置。

此外，如果待测对象是保护玻璃(cover glass)或一片玻璃式技术解决方案(One Glass Solution，简称OGS)时，其表面会被涂布有一层砷(As)，该层砷会抗污，因此，一般喷墨不易附着在待测对象表面上，实属美中不足之处。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，以克服上述公知面板检测装置的缺点。

为实现上述目的，本实用新型提供的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其包括：

一光学自动检测机台，其至少具有一载台、一取像装置及一图像处理装置，其中，该载台可承载至少一待测面板，该取像装置可对该待测面板上是否有缺陷进行取像和自动辨识，该图像处理装置可撷取该缺陷的影像，并提供该缺陷的坐标参数：以及

至少一瑕疵显示及清洁作业机台，耦接至该光学自动检测机台，该瑕疵显示及清洁作业机台上具有一显示器，该显示器上具有一用户接口，且该显示器上具有由至少一挡块所形成的一区块，该待测面板放置于该区块中时，该用户接口根据该坐标参数可精确定位及/或显示出该缺陷的位置，让作业人员可以快速判定该缺陷的种类，并选择以适当方式进行作业处置。

所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该待测面板为一触控传感器(Touch Sensor)、保护玻璃(Cover Glass)、薄膜晶体管液晶面板(TFT LCD)、有源矩阵有机发光二极管面板(AMOLED)或低温多晶硅面板(LTPS)。

所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该挡块为透明或半透明挡块，用于承载该待测面板，防止该待测面板和该显示器接触，造成二次刮伤。

所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该取像装置为一CMOS线扫描相机(CMOS line scan camera)、CMOS区域扫描相机(CMOSarea scan camera)或CCD(Charge Coupled Device)线扫描相机。

所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中，该图像处理装置为一相机或电性测试装置，其中该电性测试装置为一组探针。

所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统，其中该缺陷为一脏污、刮伤或型态瑕疵(pattern defect)。