[实用新型]面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统有效
申请号: | 201220340236.6 | 申请日: | 2012-07-13 |
公开(公告)号: | CN202693490U | 公开(公告)日: | 2013-01-23 |
发明(设计)人: | 王子越;古桂枝 | 申请(专利权)人: | 晶彩科技股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89;G01N21/94 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周长兴 |
地址: | 中国台湾新*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 面板 检测 瑕疵 显示 清洁 操作系统 | ||
1.一种面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统,其特征在于,包括:
一光学自动检测机台,其至少具有一载台、一取像装置及一图像处理装置,其中,该载台可承载至少一待测面板,该取像装置可对该待测面板上是否有缺陷进行取像和自动辨识,该图像处理装置可撷取该缺陷的影像,并提供该缺陷的坐标参数:以及
至少一瑕疵显示及清洁作业机台,耦接至该光学自动检测机台,该瑕疵显示及清洁作业机台上具有一显示器,该显示器上具有一用户接口,且该显示器上具有由至少一挡块所形成的一区块,放置该待测面板。
2.根据权利要求1所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统,其中,该待测面板为一触控传感器、保护玻璃、薄膜晶体管液晶面板、有源矩阵有机发光二极管面板或低温多晶硅面板。
3.根据权利要求1所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统,其中,该挡块为透明或半透明挡块。
4.根据权利要求1所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统,其中,该取像装置为一CMOS线扫描相机、CMOS区域扫描相机或CCD线扫描相机。
5.根据权利要求1所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统,其中,该图像处理装置为一相机或电性测试装置,其中该电性测试装置为一组探针。
6.根据权利要求1所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统,其中该缺陷为一脏污、刮伤或型态瑕疵。
7.根据权利要求1所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统,其中,该显示器为一平面显示器。
8.根据权利要求1所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统,其中,该区块大于或等于该待测面板,且可依据该待测面板的大小进行调整。
9.根据权利要求1所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统,其中,该用户接口上可显示该缺陷的影像数据及该缺陷的坐标数据。
10.根据权利要求1所述的面板检测、瑕疵显示及清洁操作系统,其中,该显示器可以调整其亮度。
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