[实用新型]一种数码玻璃厚度仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种数码玻璃厚度仪，所述数码玻璃厚度仪用于测量单层玻璃，中空玻璃和柱型玻璃管等的厚度。 

背景技术

目前测量玻璃的厚度主要采用刻度尺、卡尺或超声波测厚仪测量，但是对于已经安装的窗户玻璃或其他建筑玻璃卡尺却无法测量。而超声波测厚仪只能测量单层玻璃，对于中空玻璃却无法测量中间的空气层厚度和第二层玻璃厚度。 

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种数码玻璃厚度仪，本实用新型利用光学反射原理，在玻璃的单侧表面测量玻璃厚度，尤其适用于通用测量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的测量场合，如建筑玻璃窗厚度的测量。对于中空玻璃的测量，还可以同时获得两层玻璃及中间空气层的厚度。 

实现本实用新型目的的技术方案是： 

一种数码玻璃厚度仪，包括外盒、激光器、狭缝、窗口片、衰减片、窄带滤光片、线阵CMOS探测器、单片机、液晶屏；所述激光器发出一束激光，所述激光与仪器底面呈一夹角，所述狭缝设置在激光器前端，所述激光从狭缝射出透过窗口片后斜射在被测玻璃上，所述被测玻璃的各个表面都发生反射光束，所述反射光束经过窗口片、衰减片、窄带滤光片后投射到线阵COMS探测器上，所述线阵COMS探测器探测到的光强信号传送给单片机，所述线阵COMS探测器上的光斑距离与被测玻璃厚度和空气层厚度成线性关系，经单片机处理后的被测玻璃和空气层厚度值在液晶屏上显示，所述窗口片设置在外盒的背面上，所述液晶屏设置在外盒的正面上。 

进一步地，所述激光器发出的激光采用650纳米激光；所述窗口片采 用红色玻璃，所述红色玻璃对610纳米以上长波段的高透，对610纳米以下短波段阻隔；所述红色玻璃满足对所述激光器发出650纳米激光高透，对610纳米以下外界光阻隔。 

进一步地，所述窄带滤光片的峰值波长为650纳米，所述窄带滤光片的峰值透过率为50％，所述窄带滤光片的半高宽为25纳米，所述窄带滤光片的入射角为35度，所述窄带滤光片满足650纳米红光高透并且对200纳米-1100纳米的其他波段全阻隔。 

进一步地，所述衰减片分为第一衰减片、第二衰减片，所述第一衰减片设置在窄带滤光片下面，所述第二衰减片设置在窄带滤光片上面，所述衰减片对反射光束在光路中产生的干扰光线进行吸收。 

进一步地，所述数码玻璃厚度仪进一步包括查询键、测量键、开关键；所述测量键用于对被测玻璃进行测量，测量数据自动保存到历史记录数据组中；所述查询键用于查询厚度仪存储的历史保持数据；所述开关键用于厚度仪的开机和关机；所述查询键、测量键、开关键分别设置在外盒正面上的液晶屏下端。 

进一步地，所述数码玻璃厚度仪进一步包括电池安装槽，所述数码玻璃厚度仪采用的电源为四节碱性干电池，所述干电池安装在电池安装槽内。 

采用本实用新型的有益效果为： 

1、本实用新型利用光学反射原理，在玻璃的单侧表面测量玻璃厚度，可以测量通用测量工具如刻度尺或卡尺等不能或不易操作的测量场合，如建筑玻璃窗厚度的测量。同时，对于中空玻璃的测量，还可以获得两层玻璃及中间空气层的厚度。 

2、本实用新型采用线阵CMOS探测器探测光斑位置，信号经单片机处理，厚度值在液晶上显示。与以往人工读标尺的方法相比，具有测量精度高、操作简单，测量快速的优点。 

3、光源的方向性好，光斑横截面成一细线，提高了仪器分辨率和测量精度。 

4、探测器前加一窄带滤光片，解决了外界光的影响，使仪器能满足在户外使用。 

5、解决了光束的多次反射问题，防止了干扰光斑出现，以免造成光斑误判。 

6、采集所有界面的反射光斑位置，同时获得两层玻璃及中间空气层的厚度。 

附图说明

图1为本实用新型的原理示意图； 

图2为本实用新型的正面结构示意图； 

图3为本实用新型的背面结构示意图； 

图4为本实用新型的测量结果数据图。 

图1、图2、图3中，101-外盒、102-激光器、103-狭缝、104-窗口片、105-第一衰减片、106-第二衰减片、107-窄带滤光片、108-线阵CMOS探测器、109-单片机、110液晶屏、111-被测玻璃、112-激光、113-反射光束、201-查询键、202-测量键、203-开关键、205-电池安装槽。 

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型所提供的数码玻璃厚度仪进一步说明：