[实用新型]一种数码玻璃厚度仪

权利要求书

1.一种数码玻璃厚度仪，其特征是，包括外盒、激光器、狭缝、窗口片、衰减片、窄带滤光片、线阵CMOS探测器、单片机、液晶屏；所述激光器发出一束激光，所述激光与仪器底面呈一夹角，所述狭缝设置在激光器前端，所述激光从狭缝射出透过窗口片后斜射在被测玻璃上，所述被测玻璃的各个表面都发生反射光束，所述反射光束经过窗口片、衰减片、窄带滤光片后投射到线阵COMS探测器上，所述线阵COMS探测器探测到的光强信号传送给单片机，所述线阵COMS探测器上的光斑距离与被测玻璃厚度和空气层厚度成线性关系，经单片机处理后的被测玻璃和空气层厚度值在液晶屏上显示，所述窗口片设置在外盒的背面上，所述液晶屏设置在外盒的正面上。

2.按照权利要求1所述的数码玻璃厚度仪，其特征是，所述激光器发出的激光采用650纳米激光；所述窗口片采用红色玻璃，所述红色玻璃对610纳米以上长波段的高透，对610纳米以下短波段阻隔；所述红色玻璃满足对所述激光器发出650纳米激光高透，对610纳米以下外界光阻隔。

3.按照权利要求1所述的数码玻璃厚度仪，其特征是，所述窄带滤光片的峰值波长为650纳米，所述窄带滤光片的峰值透过率为50％，所述窄带滤光片的半高宽为25纳米，所述窄带滤光片的入射角为35度，所述窄带滤光片满足650纳米红光高透并且对200纳米-1100纳米的其他波段全阻隔。

4.按照权利要求1所述数码玻璃厚度仪，其特征是，所述衰减片分为第一衰减片、第二衰减片，所述第一衰减片设置在窄带滤光片下面，所述第二衰减片设置在窄带滤光片上面，所述衰减片对反射光束在光路中产生的干扰光线进行吸收。

5.按照权利要求1所述的数码玻璃厚度仪，其特征是，所述数码玻璃厚度仪进一步包括查询键、测量键、开关键；所述测量键用于对被测玻璃进行测量，测量数据自动保存到历史记录数据组中；所述查询键用于查询厚度仪存储的历史保持数据；所述开关键用于厚度仪的开机和关机；所述查询键、测量键、开关键分别设置在外盒正面上的液晶屏下端。

6.按照权利要求1所述的数码玻璃厚度仪，其特征是，所述数码玻璃厚度仪进一步包括电池安装槽，所述数码玻璃厚度仪采用的电源为四节碱性干电池，所述干电池安装在电池安装槽内。