[实用新型]RFIC交错式分类测试的结构有效
| 申请号： | 201220223653.2 | 申请日： | 2012-05-18 |
| 公开（公告）号： | CN202693749U | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | 陈良波;贺云朋 | 申请（专利权）人： | 全智科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 长春市吉利专利事务所 22206 | 代理人： | 张绍严;王大珠 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | rfic 交错 分类 测试 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种RFIC交错式分类测试的结构，其为一用来检测并分类至少一芯片模块的分类测试装置，其特征在于该分类测试装置包括：
至少一测试模块以及复数分类模块，测试模块测试各芯片模块；
分类结构的复数分类模块包括分别同时对各芯片模块进行分类的一第一分类模块及一第二分类模块，该第一分类模块及该第二分类模块信息连接该测试模块，且该第一分类模块及该第二分类模块分别分类各该芯片模块。
2.根据权利要求1所述的RFIC交错式分类测试的结构，其特征在于：其中该测试模块于测试各该芯片模块后产生一分类指令单元。
3.根据权利要求2所述的RFIC交错式分类测试的结构，其特征在于：其中该些分类模块接收该分类指令单元，且该些分类模块依据该分类指令单元对该芯片模块进行分类。
4.根据权利要求1所述的RFIC交错式分类测试的结构，其特征在于：其中该芯片模块为RFIC芯片。
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