[实用新型]光学镀膜测控系统有效
| 申请号： | 201220142503.9 | 申请日： | 2012-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN202626283U | 公开（公告）日： | 2012-12-26 |
| 发明（设计）人： | 孔祥龙 | 申请（专利权）人： | 长春市奥维精密试验设备有限公司 |
| 主分类号： | C23C14/54 | 分类号： | C23C14/54;G05B19/05;G02B1/10 |
| 代理公司： | 吉林长春新纪元专利代理有限责任公司 22100 | 代理人： | 魏征骥 |
| 地址： | 130012 *** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 光学 镀膜 测控 系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种光学镀膜测控系统，其特征在于：传感器一与滤波器电连接，传感器二与放大器电连接，滤波器、放大器分别与可编程门阵列电连接，可编程门阵列分别与光电隔离开关一、光电隔离开关二电连接，电源分别与传感器一、传感器二电连接，PCI总线 与可编程门阵列电连接。
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