[实用新型]一种SIM卡热插拔电路及其手机有效

专利信息
申请号: 201220100120.5 申请日: 2012-03-16
公开(公告)号: CN202551148U 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 王柯;顾建良 申请(专利权)人: 惠州TCL移动通信有限公司
主分类号: H04M1/40 分类号: H04M1/40;G06F13/40
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 代理人: 王永文;杨宏
地址: 516006 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 sim 卡热插拔 电路 及其 手机
【权利要求书】:

1.一种SIM卡热插拔电路,包括基带芯片和SIM卡连接器,所述基带芯片与SIM卡连接器连接;在SIM卡连接器内设置有用于检测SIM卡插入状态的开关,所述开关一端连接基带芯片的SIMDET管脚,另一端接地,其特征在于,还包括场效应管、第一分压模块和第二分压模块,所述场效应管的源极连接基带芯片的VSIM管脚,漏极连接所述SIM卡连接器的VSIM管脚、栅极通过第一分压模块连接所述基带芯片的SIMDET管脚和开关的一端,栅极还通过第二分压模块连接基带芯片的VSIM管脚和场效应管的源极;所述第一分压模块的电压小于第二分压模块的电压。

2.如权利要求1所述的SIM卡热插拔电路,其特征在于,所述第一分压模块包括第一电阻,所述第一电阻的一端连接场效应管的栅极和第二分压模块,另一端连接基带芯片的SIMDET管脚和开关的一端。

3.如权利要求2所述的SIM卡热插拔电路,其特征在于,所述第二分压模块包括第二电阻,所述第二电阻的一端连接基带芯片的VSIM管脚和场效应管的源极;另一端连接场效应管的栅极和第一电阻的一端。

4.如权利要求3所述SIM卡热插拔电路,其特征在于,所述第二电阻的阻值是第一电阻的十倍。

5.如权利要求1~4任一所述的SIM卡热插拔电路,其特征在于,所述场效应管为N沟道MOS管。

6.一种手机,包括外壳,以及设置在外壳内的主板,所述主板上设置基带芯片和SIM卡连接器,所述基带芯片与SIM卡连接器连接;在SIM卡连接器内设置有用于检测SIM卡插入状态的开关,所述开关一端连接基带芯片的SIMDET管脚,另一端接地,其特征在于,还包括场效应管、第一分压模块和第二分压模块,所述场效应管的源极连接基带芯片的VSIM管脚,漏极连接所述SIM卡连接器的VSIM管脚、栅极通过第一分压模块连接所述基带芯片的SIMDET管脚和开关的一端,栅极还通过第二分压模块连接基带芯片的VSIM管脚和场效应管的源极;所述第一分压模块的电压小于第二分压模块的电压。

7.如权利要求6所述的手机,其特征在于,所述第一分压模块包括第一电阻,所述第一电阻的一端连接场效应管的栅极和第二分压模块,另一端连接基带芯片的SIMDET管脚和开关的一端。

8.如权利要求7所述的手机,其特征在于,所述第二分压模块包括第二电阻,所述第二电阻的一端连接基带芯片的VSIM管脚和场效应管的源极;另一端连接场效应管的栅极和第一电阻的一端。

9.如权利要求8所述的手机,其特征在于,所述第二电阻的阻值是第一电阻的十倍。

10.如权利要求6~9任一所述的手机,其特征在于,所述场效应管为N沟道MOS管。

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