[实用新型]基于负微分电阻特性的混合SETCMOS D触发器有效
申请号: | 201220068991.3 | 申请日: | 2012-02-29 |
公开(公告)号: | CN202455323U | 公开(公告)日: | 2012-09-26 |
发明(设计)人: | 魏榕山;陈寿昌;陈锦锋;何明华 | 申请(专利权)人: | 福州大学 |
主分类号: | H03K3/012 | 分类号: | H03K3/012;H03K3/02 |
代理公司: | 福州元创专利商标代理有限公司 35100 | 代理人: | 蔡学俊 |
地址: | 350002 福建省福州市铜*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 微分 电阻 特性 混合 setcmos 触发器 | ||
1.一种基于负微分电阻特性的混合SETCMOS D触发器,其特征在于,包括:
一第一锁存器,其包括一NMOS传输管、具有NDR特性的混合SET/CMOS电路NDR1以及以SET/CMOS为基础的负微分电阻电路SET-MOS1,所述的NDR1和SET-MOS1串联,所述NMOS管的漏极连接至该NDR1和SET-MOS1之间;
一第二锁存器,其包括一PMOS传输管、具有NDR特性的混合SET/CMOS电路NDR2以及以SET/CMOS为基础的负微分电阻电路SET-MOS2,所述的NDR2和SET-MOS2串联,所述PMOS管的漏极连接至该NDR2和SET-MOS2之间;以及
一缓冲器,所述的第一锁存器经该缓冲器与所述第二锁存器连接。
2.根据权利要求1所述的基于负微分电阻特性的混合SETCMOS D触发器,其特征在于:所述SET-MOS1和SET-MOS2包括一单电子晶体管SET及一NMOS管,所述的NMOS管的源极与单电子晶体管SET的漏极连接,所述NMOS管的漏极与所述单电子晶体管SET的栅极连接。
3.根据权利要求1所述的基于负微分电阻特性的混合SETCMOS D触发器,其特征在于:所述NDR1和NDR2包括一单电子晶体管SET及一PMOS管,所述的PMOS管的源极与单电子晶体管SET的源极相连,单电子晶体管SET的栅极与PMOS管的漏极相连。
4.根据权利要求2或3所述的基于负微分电阻特性的混合SETCMOS D触发器,其特征在于:所述单电子晶体管SET由两个隧穿结通过库仑岛串联而成,外加的偏置电压由栅极电容耦合到库仑岛上,以控制器件的隧穿电流。
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