[发明专利]一种等离子显示屏低放电缺陷的修复方法

权利要求书

1.一种等离子显示屏低放电缺陷的修复方法，其特征在于，在等离子显示屏的封排工序及模组工序之间包括以下工艺步骤：

步骤1：对屏进行第一次老炼：在屏的各个单元格中位于同侧的维持电极与扫描电极之间施加第一波形电压，在位于对侧的维持电极与扫描电极之间施加第二波形电压；所述第一波形电压为正脉冲与负脉冲交替出现的波形，每个正脉冲的上升沿上叠加有至少一个周期的正弦波或准正弦波，且第一波形电压中的负脉冲的波形为所述正脉冲依次经过X轴镜像、Y轴镜像后所得的波形；第二波形电压与第一波形电压的幅值与周期均相同，相位差为180°；

步骤2：检测屏是否存在低放电现象：若存在，执行步骤3，否则进入后续模组工序；

步骤3：对屏进行再次老练：在屏的各个单元格中位于同侧的维持电极与扫描电极之间施加第三波形电压，在位于对侧的维持电极与扫描电极之间施加第四波形电压；所述第三波形电压为正脉冲与负脉冲交替出现的波形，且每个脉冲的上升沿上叠加有至少一个周期的正弦波或准正弦波，且第三波形电压中的负脉冲的波形为其正脉冲依次经过X轴镜像、Y轴镜像后所得的波形；所述第三波形电压与第四波形电压幅值与周期均相同，相位差为180°；且第三波形电压中每个脉冲的正弦波或准正弦波的正峰值高于第一波形电压每个脉冲的正弦波或准正弦波的正峰值，第三波形电压中每个脉冲的正弦波或准正弦波的负峰值低于第一波形电压每个脉冲的正弦波或准正弦波的负峰值，第三波形电压中每个脉冲的上升时间短于第一波形电压中每个脉冲的上升时间；然后执行步骤4；

步骤4：检测屏是否仍然存在低放电现象：若存在，将屏报废，否则进入后续模组工序。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一波形电压中每个脉冲：上升时间为500~700ns，上升时间中的准正弦波的正峰值小于持续电压的20%，负峰值的绝对值为持续电压的20%；占空比为20~25%，持续电压为230~340V；下降时间为900~1100ns，在下降沿结束后叠加有至少一个周期的正弦波或准正弦波，所述下降沿后的正弦波或准正弦波的负峰值的绝对值小于持续电压的10%。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一波形电压频率为30K~35KHz，第一次老练时间持续4~5小时。

4.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述第三波形电压中每个脉冲：上升时间为300~600ns，上升时间中的准正弦波的正峰值为持续电压的25~35%，负峰值的绝对值为持续电压的25~45%；占空比为20~25%，持续电压为240~370V；下降时间为900~1100ns，在下降沿后叠加有至少一个周期的正弦波或准正弦波，所述下降沿后的正弦波或准正弦波的负峰值的绝对值小于持续电压的10%。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，第三波形电压频率为30K~45KHz，所述再次老练时间持续2~3小时。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤2与步骤4中的低放电检测方法为点灯检测方法，包括：使用点灯检测机使屏发光，当屏上出现相对于正常区域较暗的单元格或者不能发光的单元格时判定屏存在低放电现象。

7.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述步骤2与步骤4中，当屏不存在低放电现象时，首先根据在点灯检查时屏的光电特性判定屏的等级，然后再进入后续的模组工序。