[发明专利]基于原位X射线断层照相的脆性材料力学损伤的测量方法有效
申请号: | 201210578792.1 | 申请日: | 2012-12-27 |
公开(公告)号: | CN103076347A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 万克树;薛晓波 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/06;G01B15/06 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 211189 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 原位 射线 断层 照相 脆性 材料力学 损伤 测量方法 | ||
技术领域
本发明属于各种脆性材料的损伤力学和实验力学范畴,具体来说,涉及一种基于原位X射线断层照相的脆性材料力学损伤的测量方法。
背景技术
水泥混凝土、陶瓷、岩石、砖石、树脂等脆性材料在生产生活中被广泛应用,但这类材料在力学荷载服役过程中,不可避免的发生组织结构的劣化,比如细观结构缺陷如微裂纹、微孔隙等萌生、扩展等不可逆变化,从而引起的材料或结构宏观力学性能的劣化,在损伤力学中称之为称为损伤。
损伤力学主要研究材料或构件在各种服役条件下,其中损伤随变形而演化发展并最终导致破坏的过程中的力学规律。损伤力学选取合适的损伤变量,利用连续介质力学的唯象方法或细观力学、统计力学的方法,导出含损伤的材料的损伤演化方程。损伤变量是建立损伤模型,对材料或结构进行损伤分析的前提。损伤变量是表征材料或结构劣化程度的量度,直观上可理解为微裂纹或空洞在整个材料中所占体积的百分比。损伤变量的定义大都从损伤力学的奠基人Kachanov所提出的有效承载面积的减少而来。
现有测量材料损伤变量的方法主要有两类:一类是显微观测法,一类是无损法。显微观测法主要是用光学显微镜、扫描电镜等对损伤后样品进行破损取样,观测并统计切面的裂纹量。该类方法的主要缺点是只能在损伤后进行,而且是破损性的分析,另外该类方法只能从二维断面去推测三维信息。另外一类是无损的损伤变量测量方法,主要包括超声法、数字图像相关法、断层照相法。超声法只能给出整个样品的统计损伤平均值;数字图像相关法只能得到二维的表面变形损伤。
断层照相是一种从观测数据来反演物理模型的测算方法,因为这种反演变换只能采用计算机来完成,所以一般称为计算机断层。X射线断层照相就是利用X射线穿透各种材料并被部分吸收后,在检测器所得到的射线强度信号,在经过计算机对数据进行处理计算得到断层像。因为X射线断层照相具有原位观测,三维透视的优点,所以被应用到材料损伤研究中。以前的断层照相法分析材料损伤主要分为两类:一类是对损伤后样品直接进行裂纹统计分析,另一类是通过对损伤前后的切片直接进行差影处理获取损伤变量。第一类方法类似于传统的显微镜观测法,但是X射线断层照相的分辨率不足以分辨出细小的裂纹,所以严重低估了损伤的程度。第二类方法的缺点是无法将变形和损伤分开,因为变性的存在,前后两次测试的根本就不是同一个区域,直接差影就不准确,另外该方法也无法给出三维损伤变量的空间分布。
发明内容
技术问题:本发明所要解决的技术问题是:提供了一种基于原位X射线断层照相的脆性材料力学损伤的测量方法,该测量方法可以准确得到脆性材料的三维局部损伤变量的空间分布。
技术方案:为解决上述技术问题,本发明采用的技术方案是:
一种基于原位X射线断层照相的脆性材料力学损伤的测量方法,该测量方法包括以下步骤:
步骤10):将一脆性材料样品用5-10牛顿的荷载力固定在基于X射线断层照相的原位加载装置上;
步骤20):设定断层照相测试条件,对脆性材料样品进行第一次X射线断层照相测试,获得脆性材料样品的三维断层图像数据G1(x,y,z),其中,x的取值范围为1至x0之间的整数,y的取值范围为1至y0之间的整数,z的取值范围为1至z0之间的整数,x0、y0和z0代表脆性材料样品的三维体素尺寸;
步骤30):利用原位加载装置,对步骤10)的脆性材料样品进行原位在线力学损伤,获得损伤样品,并记录在该损伤程度下的变形量;
步骤40):对步骤30)的损伤样品,在与步骤20)相同的断层照相测试条件下,原位进行第二次X射线断层照相测试,获得损伤样品的三维断层图像数据,并根据该损伤程度下的变形量,对损伤样品的三维断层图像数据进行三维数字图像插值处理,插值后的三维数据为G2(x,y,z);
步骤50):选取子区尺寸p,p为整数,且1≤p≤100,将相邻的p3个体素确立的立方体视为一个子区;
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