[发明专利]基于原位X射线断层照相的脆性材料力学损伤的测量方法有效
申请号: | 201210578792.1 | 申请日: | 2012-12-27 |
公开(公告)号: | CN103076347A | 公开(公告)日: | 2013-05-01 |
发明(设计)人: | 万克树;薛晓波 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
主分类号: | G01N23/04 | 分类号: | G01N23/04;G01N23/06;G01B15/06 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 柏尚春 |
地址: | 211189 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 原位 射线 断层 照相 脆性 材料力学 损伤 测量方法 | ||
1.一种基于原位X射线断层照相的脆性材料力学损伤的测量方法,其特征在于,该测量方法包括以下步骤:
步骤10):将一脆性材料样品用5-10牛顿的荷载力固定在基于X射线断层照相的原位加载装置上;
步骤20):设定断层照相测试条件,对脆性材料样品进行第一次X射线断层照相测试,获得脆性材料样品的三维断层图像数据G1(x,y,z),其中,x的取值范围为1至x0之间的整数,y的取值范围为1至y0之间的整数,z的取值范围为1至z0之间的整数,x0、y0和z0代表脆性材料样品的三维体素尺寸;
步骤30):利用原位加载装置,对步骤10)的脆性材料样品进行原位在线力学损伤,获得损伤样品,并记录在该损伤程度下的变形量;
步骤40):对步骤30)的损伤样品,在与步骤20)相同的断层照相测试条件下,原位进行第二次X射线断层照相测试,获得损伤样品的三维断层图像数据,并根据该损伤程度下的变形量,对损伤样品的三维断层图像数据进行三维数字图像插值处理,插值后的三维数据为G2(x,y,z);
步骤50):选取子区尺寸p,p为整数,且1≤p≤100,将相邻的p3个体素确立的立方体视为一个子区;
步骤60):用步骤50)选取的子区,将G1(x,y,z)分成不同的子区G1-subset(x,y,z),测算每个G1-subset(x,y,z)中p3个体素的灰度平均值并用步骤50)选取的子区,将G2(x,y,z)分成不同的子区G2-subset(x,y,z),测算每个G2-subset(x,y,z)中p3个体素的灰度平均值
步骤70):利用式(1)获得损伤样品力学损伤的三维空间分布,
其中,D(x,y,z)表示损伤样品力学损伤的三维空间分布位置,表示G1(x,y,z)中每个子区G1-subset(x,y,z)中p3个体素的灰度平均值,表示G2(x,y,z)中每个子区G2-subset(x,y,z)中p3个体素的灰度平均值。
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