[发明专利]闪烁体面板、放射线检测设备以及放射线检测系统无效

专利信息
申请号: 201210576106.7 申请日: 2012-12-26
公开(公告)号: CN103176200A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 石田阳平;冈田聪;中山明哉 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G01T1/20 分类号: G01T1/20;G01T1/202
代理公司: 北京魏启学律师事务所 11398 代理人: 魏启学
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 闪烁 体面 放射线 检测 设备 以及 系统
【说明书】:

技术领域

本发明涉及闪烁体面板、放射线检测设备以及包括放射线检测设备的放射线检测系统。

背景技术

传统上,一种放射线检测设备包括传感器面板和设置于该传感器面板上的闪烁体面板。该传感器面板具有多个光电转换元件,所述光电转换元件以具有行和列的矩阵形式配置。该闪烁体面板具有闪烁体层,该闪烁体层将放射线转换为波长能被光电转换元件检测到的光。美国专利申请2004/017495公开了一种在闪烁体和光电转换元件之间具有改进的光学耦合的放射线检测设备。该放射线检测设备包括具有光接收面的传感器面板,该光接收面具有凸凹以提高光吸收。在该传感器面板和该闪烁体层之间从该传感器面板侧按顺序设置有空隙和抗反射层。

如果抗反射层和空隙在折射率上存在差异,则背景技术中所描述的放射线检测设备可能在抗反射层和空隙之间引起光反射。这种反射会导致散射并且会不必要地降低闪烁体所发出的光的强度,从而使得到达传感器面板的光的强度(量)低。因此,闪烁体所发出的光在传感器面板上可用的量低,这会劣化图像质量。

发明内容

根据本发明的一方面,闪烁体面板包括将放射线转换为波长能被光电转换元件检测到的光的闪烁体。所述闪烁体面板具有包括多个彼此相邻的凸部的表面。所述相邻的凸部以小于针对所述闪烁体发出的光的波长的衍射极限的间距配置。根据本发明的另一方面,放射线检测设备包括:包括光电转换元件的传感器面板;包括将放射线转换为波长能被所述光电转换元件检测到的光的闪烁体的闪烁体面板;与所述闪烁体面板的与所述传感器面板相对的表面具有不同的折射率的构件。所述闪烁体设置在所述传感器面板上且所述构件设置于所述表面和所述光电转换元件之间。所述表面包括多个彼此相邻的凸部。所述相邻的凸部以小于针对所述闪烁体发出的光的波长的衍射极限的间距配置。

有利地,根据本发明至少一个实施例公开的闪烁体面板和放射线检测装置提高了闪烁体发出的光的可利用率。

根据下面参考所附图示的典型实施例的描述,本发明的其他特征将变得更加明显。

附图说明

图1A是根据本发明实施例的放射线检测设备的示意性平面图。

图1B是沿图1A中的IB-IB线的示意性剖视图。

图2是放射线检测设备中的一个像素的示意性剖视图。

图3A是示出放射线检测设备中的闪烁体表面上的凸凹的示意性平面图。

图3B是沿图3A中的IIIB-IIIB线的示意性剖视图。

图4A至图4C是示出闪烁体面板的制造过程的示意性剖视图。

图5A至图5D是示出放射线检测设备的制造过程的示意性剖视图。

图6A是示出根据本发明另一实施例的放射线检测设备的示意性平面图。

图6B是沿图6A中的VIB-VIB线的示意性剖视图。

图7是示出包括根据本发明另一实施例的放射线检测设备的放射线检测系统的例子的示意图。

具体实施方式

现在将参考图1A、图1B、图2、图3A和图3B详细描述根据本发明实施例的放射线检测设备。图1A是根据本实施例的放射线检测设备100的示意性平面图。图1B是沿图1A中的IB-IB线的示意性剖视图。图2是以放大视图示出一个像素的示意性剖视图。图3A是示出闪烁体表面上的凸凹的示意性平面图。图3B是沿图3A中的IIIB-IIIB线的示意性剖视图。

如图1A和图1B中所示,放射线检测设备100包括容纳传感器面板110和闪烁体面板120的壳体180。传感器面板110包括以具有行和列的矩阵形式配置的多个像素112。闪烁体面板120包括与传感器面板110相对设置的闪烁体121。像素112至少包括稍后将描述的光电转换元件202。光电转换元件202的宽度对应于像素112的宽度,可以为50μm至200μm。至少利用密封部130将传感器面板110和闪烁体面板120接合在一起。放射线检测设备100还包括具有驱动电路141的驱动柔性电路板142、驱动印刷电路板143、具有信号处理电路151的信号处理柔性电路板152以及信号处理印刷电路板153。放射线检测设备100还包括具有控制和电力供给电路171的印刷电路板172。驱动印刷电路板143通过柔性电路板161连接至印刷电路板172。信号处理印刷电路板153通过柔性电路板162连接至印刷电路板172。

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