[发明专利]闪烁体面板、放射线检测设备以及放射线检测系统无效
申请号: | 201210576106.7 | 申请日: | 2012-12-26 |
公开(公告)号: | CN103176200A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 石田阳平;冈田聪;中山明哉 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G01T1/20 | 分类号: | G01T1/20;G01T1/202 |
代理公司: | 北京魏启学律师事务所 11398 | 代理人: | 魏启学 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 闪烁 体面 放射线 检测 设备 以及 系统 | ||
1.一种闪烁体面板,包括:
闪烁体,将放射线转换为波长能被光电转换元件检测到的光,
其中,所述闪烁体面板具有包括多个彼此相邻的凸部的表面,以及
所述相邻的凸部以小于针对所述闪烁体发出的光的波长的衍射极限的间距配置。
2.根据权利要求1所述的闪烁体面板,其特征在于,进一步包括用于覆盖所述闪烁体的覆盖层,
其中,所述表面为所述覆盖层的表面,以及
所述间距满足:40nm≤P<λ/2n,
其中P为所述间距,λ为所述闪烁体发出的光的波长,n为所述相邻的凸部的折射率。
3.根据权利要求2所述的闪烁体面板,其特征在于,所述闪烁体为柱状晶体碱金属卤化物闪烁体。
4.根据权利要求1所述的闪烁体面板,其特征在于,所述闪烁体为粒状闪烁体,
其中,所述表面为所述闪烁体的表面。
5.根据权利要求1所述的闪烁体面板,其特征在于,所述间距小于针对最大发射波长的衍射极限,所述最大发射波长为所述闪烁体发出的强度最高的光的波长。
6.根据权利要求1所述的闪烁体面板,其特征在于,所述间距小于针对最低发射波长的衍射极限,所述最低发射波长为所述闪烁体发出的光的最短波长。
7.一种放射线检测设备,包括:
传感器面板,包括光电转换元件;
闪烁体面板,包括将放射线转换为波长能被所述光电转换元件检测到的光的闪烁体;
构件,具有与所述闪烁体面板的与所述传感器面板相对的表面不同的折射率,所述闪烁体设置在所述传感器面板上且所述构件设置于所述表面和所述光电转换元件之间,
其中,所述表面包括多个彼此相邻的凸部,以及
所述相邻的凸部以小于针对所述闪烁体发出的光的波长的衍射极限的间距配置。
8.根据权利要求7所述的放射线检测设备,其特征在于,所述传感器面板包括以矩阵形式配置的多个像素,所述像素包括所述光电转换元件,
其中,所述构件包括吸收所述闪烁体发出的光的光吸收构件,以及
所述光吸收构件设置于所述传感器面板与所述闪烁体面板之间,从而使得所述光吸收构件的正交投影位于所述像素间的区域的至少一部分中。
9.根据权利要求7所述的放射线检测设备,其特征在于,所述构件包括空气。
10.根据权利要求7所述的放射线检测设备,其特征在于,所述闪烁体面板进一步包括覆盖所述闪烁体的覆盖层,
其中,所述表面为所述覆盖层的与所述传感器面板相对的表面,以及
所述间距为40nm或更大。
11.根据权利要求7所述的放射线检测设备,其特征在于,所述表面为所述闪烁体的与所述传感器面板相对的表面。
12.一种放射线检测系统,包括:
根据权利要求7所述的放射线检测设备;
信号处理单元,用于处理来自所述放射线检测设备的信号;
记录单元,用于记录来自所述信号处理单元的信号;
显示单元,用于显示来自所述信号处理单元的信号;以及
传输处理单元,用于传输来自所述信号处理单元的信号。
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