[发明专利]像素阵列的测试电路、测试方法及显示面板、显示器

权利要求书

1.一种像素阵列的测试电路，其特征在于，包括：

M个薄膜场效应晶体管MOS开关，每一所述MOS开关的源极/漏极与像素阵列的数据线电性连接；

N个第一测试衬垫，用于输入测试控制信号分别控制所述M个MOS开关通断，每一所述第一测试衬垫与至少一个所述MOS开关的栅极电性连接；

K个第二测试衬垫，用于输入数据信号，每一所述第二测试衬垫与至少一个所述MOS开关的漏极/源极电性连接；

P个集成电路元件IC衬垫，至少一个所述IC衬垫包括至少两个子衬垫，所述IC衬垫中的所述至少两个子衬垫分别与所述M个MOS开关中相同数目的所述MOS开关的栅极一一对应电性连接；其中，M为大于等于2的整数，N、K和P均为大于等于1的整数。

2.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述MOS开关的数量与所述数据线的数量相同，所述数据线分别与所述MOS开关的源极/漏极一一对应电性连接。

3.如权利要求2所述的测试电路，其特征在于，所述M个MOS开关分为N组，每一组内所有MOS开关的栅极电连接在一起，所述N个第一测试衬底分别与N组MOS开关的栅极一一对应电性连接。

4.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述M个MOS开关的漏极/源极均连接至同一第二测试衬垫。

5.如权利要求3所述的测试电路，其特征在于，所述M个MOS开关的漏极/源极分为K组，所述K个第二测试衬垫分别与所述K组MOS开关的漏极/源极一一对应电性连接。

6.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括一个所述IC衬垫，所述子衬垫是由所述一个IC衬垫对应划分的。

7.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述测试电路包括至少两个所述IC衬垫，每一所述IC衬垫包括至少两个子衬垫，所述至少两个IC衬垫共用至少一个子衬垫。

8.如权利要求1至7所述任意一项所述的测试电路，其特征在于，所述MOS开关为N沟道增强型场效应晶体管N-MOS，所述IC衬垫是低电位信号衬垫。

9.如权利要求1至7所述任意一项所述的测试电路，其特征在于，所述MOS开关为P沟道增强型场效应晶体管P-MOS，所述IC衬垫是高电位信号衬垫。

10.如权利要求1所述的测试电路，其特征在于，所述子衬垫的形状为三角形或矩形或梯形。

11.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括如权利要求1至6任一项所述的的测试电路。

12.如权利要求11所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板还包括IC芯片，一个所述IC衬垫中所包含所有测试衬垫同时与同一个IC芯片端口对应电性连接。

13.一种显示器，其特征在于，所述显示器包括如权利要求11或12所述的显示面板。

14.一种利用如权利要求1所述的测试电路测试像素阵列的方法，其特征在于，步骤如下：

通过部分或全部N个第一测试衬垫输入测试控制信号使与之对应的所述MOS开关导通；

通过所述第二测试衬垫输入数据信号，使导通的MOS开关的源极/漏极电性连接的数据线对应的像素正常显示，并进行像素阵列测试。

15.如权利要求14所述的方法，其特征在于，像素阵列测试完成后，将集成电路元件IC芯片压合至所述IC芯片对应的IC衬垫，使属于同一所述IC衬垫的各个子衬垫电性连接的所述MOS开关的栅极短接。

16.如权利要求15所述的测试电路，其特征在于，所述IC衬垫是低电位信号衬垫，IC芯片压合至所述IC芯片对应的IC衬垫后，通过所述IC衬垫输入低电位使属于所述IC衬垫的各个子衬垫电性连接的所述MOS开关关闭；或者，

所述IC衬垫是高电位信号衬垫，IC芯片压合至所述IC芯片对应的IC衬垫后，通过所述IC衬垫输入高电位使属于所述IC衬垫的各个子衬垫电性连接的MOS开关关闭。