[发明专利]测试电路、存储器系统以及存储器系统的测试方法

权利要求书

1.一种测试电路，包括：

测试执行单元，所述测试执行单元被配置成对目标测试存储器电路执行测试；

内部存储单元，所述内部存储单元被配置成储存用于所述测试执行单元的数据；以及

转换设定单元，所述转换设定单元被配置成将所述目标测试存储器电路的一部分存储空间或整个存储空间设定为储存用于所述测试执行单元的数据的外部存储单元。

2.如权利要求1所述的测试电路，其中，所述转换设定单元将用于所述测试执行单元的数据储存在所述外部存储单元中；如果用于所述测试执行单元的数据储存在所述外部存储单元中，则从所述外部存储单元获取由所述测试执行单元请求的用于所述测试执行单元的数据；以及将获取的数据传送到所述测试执行单元。

3.如权利要求2所述的测试电路，其中，所述转换设定单元储存所述目标测试存储器电路的存储空间中的被设定为所述外部存储单元的部分的地址。

4.如权利要求1所述的测试电路，其中，如果所述目标测试存储器电路的测试完成，则所述转换设定单元将所述目标测试存储器电路的存储空间中的无故障部分设定为所述外部存储单元。

5.如权利要求2所述的测试电路，其中，所述测试执行单元将命令、地址和测试模式数据中的一个或更多个提供给所述目标测试存储器电路，并且响应于从所述目标测试存储器电路输出的结果来产生结果信息，所述结果信息指示所述目标测试存储器电路中是否存在故障以及所述目标测试存储器电路中的故障部分或无故障部分的地址。

6.如权利要求5所述的测试电路，其中，用于所述测试执行单元的数据包括所述命令、所述地址、所述测试模式数据以及所述结果信息。

7.如权利要求2所述的测试电路，其中，所述内部存储单元储存用于所述测试执行单元的数据，并且如果用于所述测试执行单元的数据储存在所述内部存储单元中，则将由所述测试执行单元请求的用于所述测试执行单元的数据传送到所述测试执行单元。

8.如权利要求5所述的测试电路，其中，所述测试执行单元利用被包括在所述结果信息中的所述目标测试存储器电路中的故障部分的地址来对所述目标测试存储器电路执行修复操作。

9.一种存储器系统，包括：

多个存储器电路；以及

测试电路，所述测试电路被配置成对所述多个存储器电路执行测试；

其中，所述测试电路利用所述多个存储器电路中的一个或更多个存储器电路的一些存储空间或全部存储空间作为所述测试电路的外部存储单元，

其中，对用作所述外部存储单元的所述一个或更多个存储器电路的测试已经完成，

其中，所述多个存储器电路具有不同的存储容量，

其中，所述测试电路利用所述多个存储器电路之中的具有最低存储容量的存储器电路的存储空间作为所述测试电路的外部存储单元。

10.如权利要求9所述的存储器系统，其中，所述测试电路包括：

测试执行单元，所述测试执行单元被配置成对所述多个存储器电路执行测试；以及

内部存储单元，所述内部存储单元被配置成储存用于所述测试执行单元的数据。

11.如权利要求10所述的存储器系统，其中，所述测试电路将用于所述测试执行单元的数据储存在所述内部存储单元或所述外部存储单元中。

12.如权利要求11所述的存储器系统，其中，所述测试电路将命令、地址和测试模式数据提供给所述多个存储器电路中的一个或更多个，并且在所述一个或更多个存储器电路执行与所述命令相对应的操作之后响应于从所述一个或更多个存储器电路输出的结果来产生结果信息，所述结果信息指示所述一个或更多个存储器电路中是否存在故障以及所述一个或更多个存储器电路中的故障部分或无故障部分的地址。

13.如权利要求12所述的存储器系统，其中，用于所述测试执行单元的数据包括所述命令、所述地址、所述测试模式数据以及所述结果信息。

14.如权利要求9所述的存储器系统，还包括：

内部存储单元，被配置为具有测试具有最低存储容量的存储器电路所需的存储容量。