[发明专利]测量装置以及测量方法

说明书

技术领域

本发明是关于一种光学特性测量方法，尤其是关于一种通过导电探针卡测量发光二极管(LED)的全光通量的方法。

背景技术

LED(Light emitting diode)具有耗电量小、寿命长、反应速度快的特性，被誉为下一个世代的照明组件。LED产业结构分为上、中、下游。上游将原料制作成磊芯片后，中游负责整合成LED晶片，再将进行晶粒切割成单一晶粒(LED chip die)，最后在下游将晶粒封装成各式不同型态的LED。因此，测量LED的光学参数对评估光源的能量转换效率而言是非常重要的。

目前对于LED而言，测量光学参数(例如全光通量)的方法主要可分为两大类，分别为积分球式及太阳能面板式(PV cell)。就积分球式而言，由于传统探针高度限制，因此这一方法仅可测量120度光接收角的光通量。另一方法则为太阳能面板式，使用太阳能面板对位后进行收光的动作。此方法同样受限于传统探针高度限制，使得光接收角为128度。

有鉴于此，需要一种新的方案，以解决上述问题。

发明内容

本发明提供一种测量装置与测量方法，以阵列式微型积分球为基础架构并搭配透明导电探针卡，使得全光通量的光接收角可达140度以上，并且可减少对位次数，以减少其机构产生的对位误差，提高测量速度。

本发明提供一种测量装置，用以测量一晶片上的多个发光装置，包括一导电探针卡、一光学接收模块、一分光模块以及一数据处理模块。导电探针卡是放置于晶片的至少一发光装置之上，以驱动至少一发光装置，使至少一发光装置发出一入射光并穿过导电探针卡；光学接收模块接收穿过导电探针卡的入射光；分光模块将入射光转换为光谱信号；以及数据处理模块依据光谱信号计算一光学参数。

本发明提供一种应用于一测量装置的测量方法，测量装置包括一导电探针卡、一光学接收模块、一分光模块以及一数据处理单元，测量方法包括放置导电探针卡于一晶片的至少一发光装置之上；通过导电探针卡驱动至少一发光装置，使得至少一发光装置发出一入射光并穿过导电探针卡；通过光学接收模块接收穿过导电探针卡的入射光；通过分光模块将该射光转换为光谱信号；以及通过数据处理模块依据光谱信号计算一光学参数。

附图说明

图1为本发明所提供的一实施例的示意图；

图2为本发明所提供的光学测量方法的示意图；

图3为本发明所提供的另一实施例的示意图；

图4为本发明所提供的另一实施例的示意图；

图5为本发明所提供的另一实施例的示意图；

图6为本发明所提供的另一实施例的示意图；

图7为本发明所提供的测量装置的操作流程图。

【主要组件符号说明】

100、300、400、500、600～检测装置；

101、201、301、401、501、601～导电探针卡；

102～光学接收模块；

103、303、403、503、603～分光模块；

104、304、404、504、604～数据处理模块；

105、305、405、505、605～发光装置；

202～晶片；

205a～第一发光装置；

205b～第二发光装置；

206、306、406、506、606～积分球；

207～开口；

308、408、508、608～入射光；

416、516、616～积分球阵列。

具体实施方式

以下将详细讨论本发明各种实施例的装置及使用方法。然而值得注意的是，本发明所提供的许多可行的发明概念可实施在各种特定范围中。这些特定实施例仅用于举例说明本发明的装置及使用方法，但非用于限定本发明的范围。

图1为本发明所提出的测量装置的一实施例的示意图。如图所示，测量装置100包括一导电探针卡101、一光学接收模块102、一分光模块103以及一数据处理模块104。测量装置100可应用于光学特性的检测。举例而言，测量装置100可检测发光装置105的频谱、波长、全光通量、亮度与色度等各种光学参数。发光装置105可为放置于晶片或基板上的一种或多种的薄膜材料、半导体材料、光学材料、有机材料或无机材料所构成的发光装置。在本发明较佳的实施例中，发光装置105为一发光二极管(LED)。