[发明专利]应用于发光二极管与透镜的对位模组及其对位方法无效

专利信息
申请号: 201210565007.9 申请日: 2012-12-24
公开(公告)号: CN103883988A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 赖志成 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: F21V17/00 分类号: F21V17/00;F21Y101/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 应用于 发光二极管 透镜 对位 模组 及其 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种对位模组,特别涉及一种应用于发光二极管与二次光学透镜的对位模组及其通过所述对位模组对所述发光二极管与二次光学透镜进行对位的对位方法。

背景技术

现有的发光二极管模组一般包括一基板、设置于基板上的若干发光二极管以及与所述每一发光二极管正对设置的光学透镜。

而发光二极管与光学透镜之间的对位关系一般通过一视觉对位系统来进行。在光学透镜与发光二极管对位的过程中,该视觉对位系统的影像感测装置会分别对光学透镜及发光二极管的外部轮廓进行图像感测,然后通过计算得到所述光学透镜及发光二极管的几何中心的坐标值,再依据二者的几何中心的坐标值使其重叠来将二者对位安装。

然而,由于受到发光二极管制造过程中的各种因素的影响,发光二极管的几何中心往往并不一定是其发光强度最大的位置。而当所述发光二极管发光强度最大(光心)的位置(与所述光学透镜的几何中心不在同一直线时,容易导致发光二极管发出的光线经由光学透镜出射后发生偏光或者亮暗不均的现象,从而影响整个发光二极管模组的出光效果。

发明内容

有鉴于此,有必要提供一种可供发光二极管与二次光学透镜精确对位的对位模组及采用该对位模组进行对位的对位方法。

一种用于发光二极管与透镜的对位模组,其用以将发光二极管与光学透镜进行对位,包括一主控模组、受控于主控模组的第一影像感测模组及第二影像感测模组,所述主控模组控制所述第一影像感测模组及第二影像感测模组分别对所述发光二极管的光强中心及光学透镜的外部轮廓几何中心进行感测,所述主控模组依据发光二极管光强中心及光学透镜的外部轮廓的几何中心的坐标使二者实现精确对位。

一种用于发光二极管与透镜进行对位的对位方法,其包括以下步骤:

将发光二极管通电使其发出一定强度的光;

提供一对位模组,并利用对位模组对发光二极管及光学透镜进行感测,以获得同一坐标系中的发光二极管发光强度最大的位置处的坐标以及光学透镜几何中心处的坐标;

所述对位模组依据所述坐标信息,将所述光学透镜与所述发光二极管进行精确对位。

本发明的对位模组及对位方法中,通过分别感测发光二极管发光强度最大位置处的坐标值以及感测所述光学透镜的外部轮廓几何中心的坐标值,计算得到同一坐标系中的发光二极管发光强度最大位置处的坐标值及光学透镜的外部轮廓几何中心坐标值,并通过将所述二者的坐标值对应来实现发光二极管与光学透镜的对位,使得二者的对位更加精确,从而提高发光二极管的出光的均匀度。

附图说明

图1为本发明的对位模组的结构示意图。

图2至图4为采用本发明的对位模组将发光二极管与光学透镜进行对位的方法步骤示意图。

主要元件符号说明

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