[发明专利]应用于发光二极管与透镜的对位模组及其对位方法

权利要求书

1.一种用于发光二极管的对位模组，其用以将发光二极管与光学透镜进行对位，其特征在于：包括一主控模组、受控于主控模组的第一影像感测模组及第二影像感测模组，所述主控模组控制所述第一影像感测模组及第二影像感测模组分别对所述发光二极管的光强中心及光学透镜的外部轮廓几何中心进行感测，所述主控模组依据发光二极管光强中心及光学透镜的外部轮廓的几何中心的坐标使二者实现精确对位。

2.如权利要求1所述的对位模组，其特征在于：所述第一影像感测模组及第二影像感测模组分别将感测到的信息反馈至所述主控模组，并经由所述主控模组进行处理。

3.如权利要求2所述的对位模组，其特征在于：所述主控模组依据所述第一影像感测模组及第二影像感测模组反馈的信息，计算出所述发光二极管发光强度最大的位置处的坐标值及所述光学透镜的几何中心的坐标值，然后将二坐标值换算至同一坐标系中，得到同一坐标系中的发光二极管发光强度最大的位置处的坐标值以及光学透镜的几何中心的坐标值。

4.如权利要求3所述的对位模组，其特征在于：还包括一取件模组，所述取件模组用以抓取光学透镜，并根据所述主控模组换算后的坐标值，将所述光学模组精确对位至所述发光二极管。

5.如权利要求2所述的对位模组，其特征在于：所述第一影像感测模组及第二影像感测模组分别具有一摄像头，且所述摄像头均为CCD摄像头。

6.一种对位方法，用以将发光二极管及光学透镜进行对位，其包括以下步骤：

将发光二极管通电使其发出一定强度的光；

提供一对位模组，并利用对位模组对发光二极管及光学透镜进行感测，以获得同一坐标系中的发光二极管发光强度最大的位置处的坐标以及光学透镜几何中心处的坐标；

所述对位模组依据所述坐标信息，将所述光学透镜与所述发光二极管进行精确对位。

7.如权利要求6所述的对位方法，其特征在于：所述对位模组包括一感测发光二极管的第一影像感测模组、一感测光学透镜的第二影像感测模组以及用以控制所述第一影像感测模组及第二影像感测模组的主控模组，所述主控模组控制所述第一影像感测模组将感测的发光二极管的发光强度及位置信息反馈至所述主控模组，所述主控模组控制所述第二影像感测模组将感测的光学透镜的信息反馈至所述主控模组，然后经由所述主控模组计算得到所述发光二极管发光强度最大的位置处的坐标值及所述光学透镜的几何中心的坐标值，再经由所述主控模组的转换，将二坐标值换算为同一坐标系中。

8.如权利要求7所述的对位方法，其特征在于：所述对位模组还包括取件模组，通过所述对位模组的取件模组，并依据所述换算后的坐标值，将所述光学透镜与所述发光二极管进行精确对位。