[发明专利]存储器的出错信息记录方法及冗余替代方法在审
| 申请号： | 201210564171.8 | 申请日： | 2012-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN103021468A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 吴玮 | 申请（专利权）人： | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/24 | 分类号： | G11C29/24 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 出错 信息 记录 方法 冗余 替代 | ||
1.一种存储器的出错信息记录方法，其特征在于，包括：
对存储器划分区域，每个所述区域的子单元数目与冗余单元的子单元数目相等；
对每个区域的所有子单元进行性能测试，若该区域所有子单元性能全部合格，则在出错信息记录单元中存入合格，若该区域有子单元性能不合格，则在出错信息记录单元中存入不合格。
2.根据权利要求1所述的出错信息记录方法，其特征在于，所述冗余单元为扇区，所述子单元为字节或位。
3.根据权利要求2所述的出错信息记录方法，其特征在于，所述冗余单元为一个扇区或几个扇区。
4.根据权利要求1所述的出错信息记录方法，其特征在于，所述冗余单元为行或列，所述子单元为字节或位。
5.根据权利要求4所述的出错信息记录方法，其特征在于，所述冗余单元为一行或几行。
6.根据权利要求4所述的出错信息记录方法，其特征在于，所述冗余单元为一列或几列。
7.根据权利要求1所述的出错信息记录方法，其特征在于，所述出错信息记录单元为出错信息寄存器。
8.根据权利要求1所述的出错信息记录方法，其特征在于，所述性能测试包括可靠性测试。
9.根据权利要求1所述的出错信息记录方法，其特征在于，所述合格采用1记录，所述不合格采用0记录。
10.一种存储器的冗余替代方法，其特征在于，包括：
对存储器进行测试，并采用上述权利要求1至9中任一项所述的方法进行出错信息记录；
采用冗余单元代替不合格的区域。
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