[发明专利]一种测量PV组件功率特性的装置有效

专利信息
申请号: 201210563077.0 申请日: 2012-12-21
公开(公告)号: CN103888076A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 李勇滔;夏洋;刘邦武;王文东 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H02S50/15 分类号: H02S50/15
代理公司: 北京华沛德权律师事务所 11302 代理人: 刘丽君
地址: 100029 北京市*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 测量 pv 组件 功率 特性 装置
【权利要求书】:

1.一种测量PV组件功率特性的装置,包括太阳光模拟器、工件台、电信号测试电路和运算控制器,其特征在于:所述工件台为旋转工件台,所述工件台分别与所述电信号测试电路、所述运算控制器相连接,所述电信号测试电路与所述运算控制器相连接;所述工件台上设有温度传感器和加热板;

其中,所述太阳光模拟器用于照射放置在工件台上的被测PV组件;所述电信号测试电路用于采集被测PV组件的I-V特性参数,并将所述I-V特性参数进行调理发送至所述运算控制器;所述运算控制器用于处理所述I-V特性参数,计算出被测PV组件的功率特性,以及控制所述工件台的平移和旋转,所述运算控制器同时接收来自所述温度传感器的温度信号,并且根据被测PV组件所需的加热规律控制所述加热板的温度。

2.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述太阳光模拟器的辐照面积为156mm×156mm,有效照射面积内的均匀度为±2%,时间不稳性为±1%,光谱匹配度为±25%,所述太阳光模拟器的模拟光源通过选择光谱和强度特性来模拟多种太阳光谱的光源。

3.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述工件台的台体结构包括上层和下层,所述下层沿水平的一维方向移动,所述上层沿水平轴旋转。

4.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述工件台上设置有电压传感器、电流传感器以及向被测PV组件施加电压或电流的探针;所述电压传感器和所述电流传感器的输出分别与所述电信号测试电路连接,所述电信号测试电路通过所述工件台上的探针,向被测PV组件施加电压或电流。

5.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述工件台包括驱动器和控制器,所述控制器控制所述驱动器驱动所述工件台运动,以实现所述工件台平移和旋转。

6.如权利要求3所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述工件台水平移动速度最大可达1米/秒,定位精度为0.1毫米,旋转角度为-30度到+30度,定位精度为1度。

7.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述电信号测试电路调理所述I-V特性参数的调理方式包括幅值调节、频率调节和相位调节。

8.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述运算控制器包括上位机和下位机,所述下位机与上位机的接口为RS232接口、RS485接口或USB接口;所述上位机为PC机,用于接收处理下位机的数据和指令,并且将所述上位机具有的用户界面的数据和指令传递至所述下位机;所述下位机采用微处理器,用于接收处理所述上位机的数据和指令,并且实时地传递采集数据至所述上位机。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210563077.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

同类专利
专利分类
×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top