[发明专利]一种测量PV组件功率特性的装置有效
| 申请号: | 201210563077.0 | 申请日: | 2012-12-21 |
| 公开(公告)号: | CN103888076A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
| 发明(设计)人: | 李勇滔;夏洋;刘邦武;王文东 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
| 主分类号: | H02S50/15 | 分类号: | H02S50/15 |
| 代理公司: | 北京华沛德权律师事务所 11302 | 代理人: | 刘丽君 |
| 地址: | 100029 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 测量 pv 组件 功率 特性 装置 | ||
1.一种测量PV组件功率特性的装置,包括太阳光模拟器、工件台、电信号测试电路和运算控制器,其特征在于:所述工件台为旋转工件台,所述工件台分别与所述电信号测试电路、所述运算控制器相连接,所述电信号测试电路与所述运算控制器相连接;所述工件台上设有温度传感器和加热板;
其中,所述太阳光模拟器用于照射放置在工件台上的被测PV组件;所述电信号测试电路用于采集被测PV组件的I-V特性参数,并将所述I-V特性参数进行调理发送至所述运算控制器;所述运算控制器用于处理所述I-V特性参数,计算出被测PV组件的功率特性,以及控制所述工件台的平移和旋转,所述运算控制器同时接收来自所述温度传感器的温度信号,并且根据被测PV组件所需的加热规律控制所述加热板的温度。
2.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述太阳光模拟器的辐照面积为156mm×156mm,有效照射面积内的均匀度为±2%,时间不稳性为±1%,光谱匹配度为±25%,所述太阳光模拟器的模拟光源通过选择光谱和强度特性来模拟多种太阳光谱的光源。
3.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述工件台的台体结构包括上层和下层,所述下层沿水平的一维方向移动,所述上层沿水平轴旋转。
4.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述工件台上设置有电压传感器、电流传感器以及向被测PV组件施加电压或电流的探针;所述电压传感器和所述电流传感器的输出分别与所述电信号测试电路连接,所述电信号测试电路通过所述工件台上的探针,向被测PV组件施加电压或电流。
5.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述工件台包括驱动器和控制器,所述控制器控制所述驱动器驱动所述工件台运动,以实现所述工件台平移和旋转。
6.如权利要求3所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述工件台水平移动速度最大可达1米/秒,定位精度为0.1毫米,旋转角度为-30度到+30度,定位精度为1度。
7.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述电信号测试电路调理所述I-V特性参数的调理方式包括幅值调节、频率调节和相位调节。
8.如权利要求1所述的测量PV组件功率特性的装置,其特征在于:所述运算控制器包括上位机和下位机,所述下位机与上位机的接口为RS232接口、RS485接口或USB接口;所述上位机为PC机,用于接收处理下位机的数据和指令,并且将所述上位机具有的用户界面的数据和指令传递至所述下位机;所述下位机采用微处理器,用于接收处理所述上位机的数据和指令,并且实时地传递采集数据至所述上位机。
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