[发明专利]量化存储器位单元的读取和写入裕量

权利要求书

1.一种操作集成电路的方法，所述集成电路具有外围电路并具有包括多个位单元和与所述多个位单元耦接的至少一个字线的存储器阵列，所述方法包括：

在标称电压下操作所述外围电路；

在正常的存储器事务期间，在标称电压下操作所述多个位单元和所述字线；

在读取裕量测试操作期间，在大于所述多个位单元的工作电压的电压下操作字线驱动器；以及

在写入裕量测试操作期间，在小于所述多个位单元的工作电压的电压下操作所述字线驱动器。

2.根据权利要求1所述的方法，还包括：

通过设置在所述集成电路内的电路，确定是否要进行读取裕量测试操作，或者确定是否要进行写入裕量测试操作。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，所述位单元是静态位单元。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，所述字线与至少一个位单元的至少一个存取晶体管耦接。

5.一种操作包括存储器的集成电路的方法，所述方法包括：

为多个位单元中的每一个位单元的供电轨提供第一电压源的输出；以及

为至少一个字线驱动器的供电轨提供第二电压源的输出；

其中，在写入裕量测试操作期间，所述第二电压源的输出的电压小于所述第一电压源的输出的电压；

其中，在读取裕量测试操作期间，所述第二电压源的输出的电压大于所述第一电压源的输出的电压；并且

其中，在正常的存储器事务期间，所述第一电压源的输出的电压以及所述第二电压源的输出的电压标称地相等。

6.根据权利要求5所述的方法，还包括：

通过设置在所述集成电路内的电路，确定是否要进行读取裕量测试操作，或者确定是否要进行写入裕量测试操作。

7.一种电路，包括：

至少一个位单元，具有与第一位线耦接的第一输入/输出（I/O）端子以及与第二位线耦接的第二I/O端子，所述第一I/O端子与所述第一位线耦接由字线的状态控制，所述第二I/O端子与所述第二位线耦接由所述字线的状态控制；

字线驱动器，具有与所述字线耦接的输出端子；

选择器，具有与第一电源节点耦接的第一输入端子、与第二电源节点耦接的第二输入端子、与第一控制信号源耦接的第三输入端子以及与所述字线驱动器的供电轨耦接的输出端子；以及

电压调节器，具有与第三电源节点耦接的第一输入端子、与第二控制信号源耦接的第二输入端子以及与所述第二电源节点耦接的输出端子。

8.根据权利要求7所述的电路，其中，所述多个位单元中的每个位单元包括与所述第三电源节点耦接的电源轨。

9.根据权利要求7所述的电路，其中，所述第一控制信号源提供处于第一状态的第一控制信号以进行存储器写入操作，并提供处于第二状态的第一控制信号以进行存储器读取操作；并且其中，所述第二控制信号源提供处于第一状态的第二控制信号以进行测试模式操作，并提供处于第二状态的第二控制信号以进行正常的存储器事务。

10.根据权利要求7所述的电路，其中，所述选择器被配置为，响应于处于第一状态的所述第一控制信号，将所述第一电源节点耦接至所述选择器的输出端子，并响应于处于第二状态的所述第一控制信号，将所述第二电源节点耦接至所述选择器的输出端子。