[发明专利]联锁系统中进路区段解锁逻辑的自动测试方法有效
申请号: | 201210526429.5 | 申请日: | 2012-12-07 |
公开(公告)号: | CN102991535A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 许永成;郭文章;马朋云 | 申请(专利权)人: | 北京交控科技有限公司 |
主分类号: | B61L27/00 | 分类号: | B61L27/00 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王莹 |
地址: | 100070 北京市丰台区*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 联锁 系统 进路 区段 解锁 逻辑 自动 测试 方法 | ||
技术领域
本发明涉及列车运行控制技术领域,具体涉及铁路联锁系统,特别涉及一种进路区段解锁逻辑的自动测试方法。
背景技术
为了保证行车安全,通过技术方法,使进路、道岔和信号机之间按照一定程序、一定条件建立起的既相互联系又相互制约的关系,即为联锁。联锁系统是铁路信号系统的重要组成部分。
联锁的核心是进路控制,而进路控制的核心是进路区段的锁闭与解锁。如果进路区段错误解锁可能会导致严重的安全事故。以往进路区段解锁逻辑通过人为设置区段占用/空闲状态进行测试。这种传统的测试联锁区段解锁逻辑的方法存在如下缺陷:
1、测试过程需要人工参与,由于人的主观因素或错误操作方式,可能导致测试过程存在风险,造成测试过程不完备,进而影响系统质量;
2、手工测试时,需要人为设置区段占用/空闲状态,要消耗大量的时间与精力,尤其是当软件多轮回归时,每次测试过程都是人为地进行重复性操作,效率低下;
3、手工测试,由于人的主观因素存在,精确地还原测试过程存在风险,不利于软件缺陷的再现与定位;
4、手工设置区段占用/空闲状态不能客观地反映实际的行车状态(实际列车行驶时从一个区段到另一个区段,由于速度不同,导致区段占用、出清时机不同),测试方式存在潜在风险。
鉴于进路区段正确解锁对行车安全的重要性,研究进路区段解锁逻辑的自动化测试方法具有重要意义。
发明内容
(一)所要解决的技术问题
本发明的目的在于提供一种进路区段解锁逻辑的自动测试方法,以解决传统测试方法存在的需要人工参与、效率低下、测试过程不完备、无法精确还原测试过程以及不能客观反映实际行车状态的问题。
(二)技术方案
为了解决上述技术问题,本发明提出了一种联锁系统中进路区段解锁逻辑的自动测试方法,所述测试方法包括以下步骤:
S1、将线路中的每一个轨道区段划分为一个或多个行车区段,为每个行车区段分配唯一的行车区段编号,并建立行车区段与轨道区段的映射关系;
S2、对仿真列车的车长、速度、加速度、运行方向、车头所处行车区段以及车头偏移量进行初始化,并设定所述仿真列车走行的周期时长;
S3、根据所述仿真列车的速度、加速度以及所述周期时长,计算出所述仿真列车在一个周期内的走行距离;
S4、根据所述仿真列车在周期T的期初车头所处行车区段、车头偏移量以及所述一个周期内的走行距离,计算出所述仿真列车在周期T的期末车头所处行车区段以及车头偏移量;
S5、根据行车区段与轨道区段的映射关系,将所述仿真列车在周期T的期末车头所处行车区段转换为对应的轨道区段,并将所述轨道区段的状态信息设置为占用;
S6、将所述轨道区段的状态信息作为输入数据,对进路区段解锁逻辑进行测试。
可选的,步骤S6之后进一步包括步骤:
S7、令T=T+1,然后重复步骤S4-S6,直至所述仿真列车遍历所述线路的全部轨道区段,测试结束。
可选的,所述轨道区段之间以计轴点或绝缘节进行分隔。
可选的,步骤S1进一步包括:
将每个行车区段的两个端点分别定义为该行车区段的起点和终点,其中,所述线路中的每一个行车区段的起点均在其终点的左端,或者,所述线路中的每一个行车区段的起点均在其终点的右端。
可选的,步骤S1中,所述将线路中的每一个轨道区段划分为一个或多个行车区段具体包括:
检测轨道区段A的两个计轴点或绝缘节间是否包含道岔,如果不包含,则将轨道区段A划分为一个行车区段;否则,将每个计轴点与相邻的道岔之间划分为一个行车区段,相邻的两个道岔之间划分为一个行车区段。
可选的,步骤S4进一步包括:
根据所述仿真列车在周期T的期末车头所处行车区段、车头偏移量以及所述车长,计算出所述仿真列车在周期T的期末车尾所处行车区段以及车尾偏移量。
(三)有益效果
在本发明提出的技术方案中,基于线路行车区段描述方式,仿真列车能够自动运行,模拟列车驶入进路,自动设置轨道区段占用/空闲信息,进而自动测试进路区段解锁逻辑。
与传统测试方法相比,本发明具有如下优点:
1、确保测试方案的准确、完备。仿真列车依据行车区段遍历线路所有进路,能完全覆盖进路所有区段,确保测试过程完备;同时测试过程排除人为因素,避免了测试过程中人为因素导致的测试风险。
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