[发明专利]一种遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法

权利要求书

1.一种遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一、通过图像采集设备采集晶粒承载工作台上的晶粒的图像输入设备控制计算机；

步骤二、所述设备控制计算机根据预先设置的晶粒模板信息对所述图像进行处理，按预设方法辨识所述图像中多个设定区域的晶粒分布情况和位置信息；

步骤三、所述设备控制计算机根据所述晶粒分布情况和位置信息，计算驱动所述晶粒承载工作台的电机的移动量，并根据所述移动量驱动所述晶粒承载工作台将识别到的晶粒送到分检装置分检。

2.根据权利要求1所述的遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法，其特征在于，所述的按预设方法辨识所述晶粒图像中设定区域的晶粒分布和位置信息的步骤如下：

首先，识别所述设定区域内的中间晶粒，计算驱动所述晶粒承载工作台的电机的移动量并根据所述移动量驱动所述晶粒承载工作台将识别到的所述中间晶粒送到分检装置分检；

其次，识别所述中间晶粒的下方（上方）晶粒，并将识别到的下方（上方）晶粒的位置保存；

再次，识别所述下方（上方）晶粒的右侧（左侧）晶粒，计算驱动所述晶粒承载工作台的电机的移动量并根据所述移动量驱动所述晶粒承载工作台将识别到的所述下方（上方）晶粒的右侧（左侧）晶粒送到分检装置分检。

3.根据权利要求2所述的遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法，其特征在于，当识别不到所述设定区域内的中间晶粒时，采取以下步骤：

判断识别不到中间晶粒的次数是否达到预设值，当达到预设值时，转到最后一次记录的下方（上方）晶粒位置处，触发图像采集设备采集晶粒图像；当未达到预设值时，则转到所述的识别所述下方（上方）晶粒的右侧（左侧）晶粒的步骤。

4.根据权利要求2或3所述的遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法，其特征在于，识别不到所述中间晶粒的下方（上方）晶粒时，直接转到识别所述下方（上方）晶粒的右侧（左侧）晶粒的步骤。

5.根据权利要求2或3所述的遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法，其特征在于，当识别不到所述下方（上方）晶粒的右侧（左侧）晶粒时，控制所述晶粒承载工作台一次走两个晶粒位置，进行晶粒遍历。

6.根据权利要求1所述的遍历晶粒不规则区域的多区域图像检测方法，其特征在于，所述的图像采集设备为CCD相机。