[发明专利]一种提高红外触摸屏触摸精度的方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种提高红外触摸屏触摸精度的方法，属于微处理器控制技术领域，尤其用于红外触摸屏的触摸点检测技术领域。

背景技术

现有技术中的红外触摸屏，在触摸检测区域四周安装有红外对管阵列，该红外对管阵列包括红外发射管和红外接收管，红外发射管和红外接收管一一对应，并且通过时序控制电路控制在某一时刻只有一个红外发射管发射红外光，与之相对应的红外接收管接收该红外光。因而，在任一时刻，如果检测到某一红外接收管未接收到红外光，则可以判断出此时刻发光的红外发射管和红外接收管所对应的红外光被触摸点遮挡。当在触摸检测区内有触摸物时，红外发射管和红外接收管之间的红外光被触摸物阻挡，红外接收管不能接收到红外发射管发射的红外光，连接未接收到红外光的红外接收管与相应的红外发射管便可以得到被遮挡的红外光线(扫描线)，因此根据被遮挡的第一条红外光线(扫描线)的位置和被遮挡的最后一条红外光线(扫描线)的位置即可确定触摸物的起始边界和终止边界。

实际应用过程中，红外发射管发出的红外光为发散状态的光束。如图1所示，红外发射管发射的红外光束中中间较粗一条光线为此光束的主轴光线，主轴光线两侧的光线为离轴光线。现有的红外触摸屏在确定触摸物位置信息时，可以选择与红外发射管的光主轴相对应的红外接收管与之配合，这样在横向和纵向进行逐一扫描后确定触摸点的位置信息（以下简称为主轴扫描方式）。该方法在识别单点触摸时，可以获得较为准确的结果。但是在两个或者两个以上触摸点的情况下，只采用主轴扫描方式会产生伪触摸点，如图2所示，其中A和C为真实的触摸点，而单纯的主轴扫描方式会判定A、B、C、D都是触摸点，使得红外触摸屏的触摸精度在两个或者两个以上触摸点时的精度收到影响。

为了识别多个触摸点，现有技术中一般采用如下步骤：根据主轴光线被触摸点遮挡的范围，获取准触摸点(包括真实触摸点和伪触摸点)的边界信息；再根据离轴光线被触摸点遮挡的范围，去除为触摸点。所谓离轴扫描，即采用离轴光线对触摸检测区进行扫描，也即发射红外光的红外发射管与接收红外光的红外接收管具有不同的光主轴的情况。如专利文献CN 101320307A公开的一种识别红外触摸屏上多个触摸点的方法。该方法中，通过主轴扫描方式获得准触摸点A、B、C、D之后，为了剔除伪触摸点B和D，采用离轴扫描方式进行扫描，该种方式在上述文献中也有有详细定义和描述，在此不作说明。通过离轴扫描后，如果有红外光可以穿过A和C之间的区域，即可说明B点和D点为伪触摸点，由此剔除伪触摸点B和D，从而提高红外触摸屏的触摸精度。

上述方案中虽然能够排除触摸检测区域内有两个及两个以上触摸点时产生的伪触摸点，在一定程度上提高了触摸屏的精度，但是在实际应用过程中，有可能出现两个触摸点在横向上或者纵向上的距离比较近的情况。如图3所示的两个触摸点T₁和T₂，由于在纵向上距离较近，在纵向上采用主轴扫描确定准触摸点时，由于两个触摸点在纵向上距离比较近，两个触摸点遮挡的区域合成一个区域，因此这种情况下，只采用主轴扫描不能够在纵向上区分出两个检测点，如果两个触摸点在横向上距离较近时，也可能存在相同的问题。而对于用户来说，将两个触摸点误认为一个触摸点时，会出现触摸点跳跃抖动的问题，影响书写感受。而上述方案中，只给出了当两个触摸点距离较远时，如何剔除伪触摸点的方法。而当两个触摸点在横向或者纵向上距离很近时，其没有能够分别获得每个触摸点边界信息的方法，无法区分两个触摸点，触摸精度还是不能满足需求。

发明内容

本发明所要解决是现有技术中当触摸检测区域内两个触摸点距离很近时，无法获得每一个触摸点的边界信息将两个触摸点区分开来的技术问题，从而提供一种有效区分两个触摸点获得每个触摸点边界信息的提高红外触摸屏触摸精度的方法。

为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

一种提高红外触摸屏触摸精度的方法，包括如下步骤：

S1：在纵向对触摸检测区域进行扫描：

选择具有第一倾角的第一组扫描线，根据每个触摸点对所述第一组扫描线的遮挡范围，获取每个触摸点纵向的起始边界M_ia、终止边界M_ib及每个触摸点的宽度W_i，并根据纵向的起始边界和终止边界的个数确定触摸点的个数i，其中i≤2；