[发明专利]X 射线诊断装置以及X 射线光阑控制方法

说明书

本申请主张2011年12月2日申请的日本专利申请号2011-264505的优先权，并在本申请中引用上述日本专利申请的全部内容。

技术领域

本发明涉及X射线诊断装置以及X射线光阑控制方法。

背景技术

以往，X射线诊断装置具有能够调整X射线照射范围的X射线光阑部。为了调整X射线的线质，X射线光阑部具有厚度不同的多个滤波器（以下称为附加滤波器）。附加滤波器（也被称为线质滤波器或者光束光谱滤波器）能够减少由X射线诊断装置中的X射线产生部产生的X射线的软线。多个附加滤波器的切换例如根据由用于产生X射线的条件（以下称为X射线条件）等而推定出的被检体厚度、或者源像距（SourceImage Distance：以下称为SID）来执行。

当根据推定出的被检体厚度来切换附加滤波器（以下称为被检体厚度切换法）时，存在以下那样的问题。当被检体厚度薄时，可使用软X射线（比较长的波长、透过力低的X射线）的除去率高的附加滤波器（一般为厚度厚的附加滤波器）。另一方面，当推定出的被检体厚度厚时，由于在透视时等X射线条件（例如X射线管球的最大输出、向被检体入射的放射剂量的限制等）易于达到上限，所以可使用X射线透过率高的附加滤波器（软X射线的除去率低的附加滤波器：一般为厚度薄的附加滤波器）。当被检体厚度厚时，与在X射线诊断装置中产生具有透过力的X射线的能力有余力无关，可使用薄的附加滤波器。因此，存在能够摄影或者透视的最大厚度与通过最大限度地使用上述能力而能够摄影或者透视的最大厚度相比较减少的问题。

另外，用于避免上述问题的方法是与SID的大小联动的附加滤波器的切换方法（以下称为SID依存切换法）。根据该方法，能够通过在X射线诊断装置中最大限度地使用产生具有透过力的X射线的能力，来确保可进行摄影以及透视的最大厚度。然而，在SID依存切换法中，由于没有依存于被检体厚度，如果SID长，则使用薄的附加滤波器，因此，对于被检体厚度薄的被检体而言，存在与被检体厚度切换法相比被辐射量增大这样的问题。并且，在被检体厚度切换法以及SID切换法中存在画质降低那样的问题。

现有技术文献

日本特开2004-8490号公报

日本特开2007-97665号公报

发明内容

本发明的目的在于，提供一种能够根据被检体厚度与SID来确定合适的附加滤波器，并在X射线产生部与被载置于顶板的被检体之间配置所确定的附加滤波器的X射线诊断装置。

本实施方式所涉及的X射线诊断装置具备：X射线产生部，其产生X射线；X射线检测部，其检测从X射线产生部产生并透过了被载置于顶板的被检体的X射线；X射线光阑部，其具有使所产生的X射线的线质硬化的多个滤波器；以及X射线光阑控制部，其控制X射线光阑部，以便将根据X射线产生部与X射线检测部的距离和被检体的厚度而从多个滤波器中确定出的滤波器配置在X射线产生部与被检体之间。

可提供一种能够根据被检体厚度与SID来确定合适的附加滤波器，并在X射线产生部与被载置于顶板的被检体之间配置所确定的附加滤波器的X射线诊断装置。

附图说明

图1是表示第1实施方式所涉及的X射线诊断装置的结构的一个例子的图。

图2是表示第1实施方式所涉及的与被检体厚度和SID对应的附加滤波器的厚度的对应表的一个例子的图。

图3是表示第1实施方式所涉及的根据X射线条件、SID、X射线检测放射剂量、附加滤波器的厚度（也包含附加滤波器的种类）来确定被检体厚度，根据被检体厚度和SID从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。

图4是表示第1实施方式的第1变形例所涉及的读出与X射线条件（X射线管的最大电力）对应的对应表，根据被检体厚度、SID、以及所读出的对应表从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。

图5是表示第1实施方式的第1变形例所涉及的与X射线条件、向被检体入射的放射剂量率（上限值）、SID、被检体厚度对应的附加滤波器的对应表的一个例子的图。

图6是表示第2实施方式所涉及的X射线诊断装置的结构的一个例子的图。

图7是表示第2实施方式所涉及的根据被检体厚度、X射线条件、第1、第2仿真体（phantom）的数据来计算对比度值，根据对比度值、被检体厚度以及SID，从多个附加滤波器中确定一个附加滤波器的步骤的一个例子的流程图。