[发明专利]X 射线诊断装置以及X 射线光阑控制方法有效

专利信息
申请号: 201210495252.7 申请日: 2012-11-28
公开(公告)号: CN103126696A 公开(公告)日: 2013-06-05
发明(设计)人: 白石邦夫;松本正典;大桥俊平 申请(专利权)人: 株式会社东芝;东芝医疗系统株式会社
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李洋;舒艳君
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 射线 诊断 装置 以及 光阑 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种X射线诊断装置,其特征在于,具备:

X射线产生部,其产生X射线;

X射线检测部,其检测从上述X射线产生部产生并透过了被载置在顶板的被检体的X射线;

X射线光阑部,其具有将上述产生的X射线的线质硬化的多个滤波器;以及

X射线光阑控制部,其控制上述X射线光阑部,以便将根据上述X射线产生部与上述X射线检测部的距离和上述被检体的厚度而从上述多个滤波器中确定的滤波器配置在上述X射线产生部与上述被检体之间。

2.根据权利要求1所述的X射线诊断装置,其特征在于,

上述X射线诊断装置还具备滤波器确定部,该滤波器确定部根据上述X射线产生部与上述X射线检测部的距离和上述被检体的厚度,从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器,

上述X射线光阑控制部控制上述X射线光阑部,以便将上述确定出的滤波器配置在上述X射线产生部与上述被检体之间。

3.一种X射线诊断装置,其特征在于,具备:

X射线产生部,其产生X射线;

X射线检测部,其检测从上述X射线产生部产生并透过了被载置在顶板的被检体的X射线;

X射线光阑部,其具有将上述产生的X射线的线质硬化的多个滤波器;

滤波器确定部,其根据上述X射线产生部与上述X射线检测部的距离和上述被检体的厚度,从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器;以及

X射线光阑控制部,其控制上述X射线光阑部,以便在上述X射线产生部与上述被检体之间配置上述确定出的滤波器。

4.根据权利要求3所述的X射线诊断装置,其特征在于,

上述X射线诊断装置还具备厚度决定部,该厚度决定部根据与上述X射线的产生相关的X射线条件、入射至上述X射线检测部的X射线的放射剂量、上述距离、以及上述滤波器的厚度,来决定上述被检体的厚度,

上述滤波器确定部根据上述距离和上述决定的厚度,从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。

5.根据权利要求3所述的X射线诊断装置,其特征在于,

上述X射线诊断装置还具备存储部,该存储部存储与上述被检体的厚度和上述距离对应的上述滤波器的对应表,

上述滤波器确定部根据上述被检体的厚度、上述距离、以及上述对应表,从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。

6.根据权利要求3所述的X射线诊断装置,其特征在于,

使用与上述X射线的产生相关的X射线条件和具有上述被检体的厚度的第1仿真体的数据,计算当以上述X射线条件产生的X射线透过了上述第1仿真体时从上述X射线检测部输出的第1信号值,

使用比上述被检体的厚度薄的具有规定的厚度、并与造影剂相关的第2仿真体的数据和与上述X射线的产生相关的X射线条件,计算当以上述X射线条件产生的X射线透过了上述第2仿真体时从上述X射线检测部输出的第2信号值,

上述X射线诊断装置还具备计算上述第1信号值与上述第2信号值之比的计算部,

上述滤波器确定部根据上述距离、上述被检体的厚度、以及上述比,从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。

7.根据权利要求6所述的X射线诊断装置,其特征在于,

上述X射线诊断装置还具备输入上述被检体的检查部位的输入部,

上述滤波器确定部根据上述检查部位、上述距离、上述被检体的厚度、以及上述比,从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。

8.根据权利要求3所述的X射线诊断装置,其特征在于,

上述滤波器确定部根据与由上述X射线产生部产生的X射线相关的X射线条件、上述距离、以及上述被检体的厚度,从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。

9.根据权利要求8所述的X射线诊断装置,其特征在于,

上述X射线诊断装置还具备存储部,该存储部存储分别针对与上述X射线的产生相关的多个X射线条件中的每一个的、与上述被检体的厚度和上述距离对应的上述滤波器的厚度的对应表,

上述滤波器确定部根据与上述X射线条件对应的对应表、上述被检体的厚度、以及上述距离,从上述多个滤波器中确定至少一个滤波器。

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