[发明专利]一种紫外增强污染材料测量装置

权利要求书

1.一种紫外增强污染材料测量装置，其特征在于：所述装置包括：液氮瓶（1）、液氮冷凝层（2）、真空紫外灯（3）、样品台（4）、石英晶体微量天平（5）、高真空插板阀（6）、分子泵（7）、机械泵（8）和真空室（9）； 

其中，液氮冷凝层（2）包覆在真空室（9）外，液氮瓶（1）与液氮冷凝层（2）相连，机械泵（8）通过阀门与分子泵（7）相连，分子泵（7）与真空室（9）相连，机械泵（8）还通过阀门与真空室（9）直接相连；石英晶体微量天平（5）置于真空室（9）内，真空紫外灯（3）安装于真空室（9）侧壁上，真空紫外灯（3）与石英晶体微量天平（5）处于同一水平高度，保证真空紫外灯（3）能够直射石英晶体微量天平（5），石英晶体微量天平（5）与真空紫外灯（3）的距离为300mm；样品台（4）安装于真空室（9）侧壁上，伸入真空室（9）的一端开有通孔，且样品台（4）含有加热装置。 

2.根据权利要求1所述的一种紫外增强污染材料测量装置，其特征在于：所述真空紫外灯（3）为提供波长为10～200nm的紫外光源。 

3.一种采用权利要求1所述紫外增强污染材料测量装置的测量方法，其特征在于：所述方法步骤如下： 

（1）将样品放入样品台（4）中，打开机械泵（8），打开高真空插板阀（6），对真空室（9）抽真空； 

（2）待真空室（9）真空度达到1×10^-1Pa后，打开分子泵（7），继续对真空室（9）抽真空； 

（3）待真空室（9）真空度达到3×10^-3Pa后，打开样品台（4）的加热装置，打开真空紫外灯（3）； 

（4）待样品台（4）的温度达到50℃～150℃后，使用液氮瓶（1）对冷凝层通入液氮，对真空室（9）进行冷凝；石英晶体微量天平（5）开始工作，使石英晶体微量天平（5）保持在25℃，开始冷凝后6～48h之间读取石英晶体微量天平（5）的示数，即所述天平晶体的频率差； 

（5）读数结束后，关闭样品台（4）加热装置，关闭真空紫外灯（3）； 

（6）关闭高真空插板阀（6），关闭分子泵（7），关闭机械泵（8）； 

通过以上步骤即得到紫外辐照下材料出气污染实际增强的效应。 

4.根据权利要求3所述的采用紫外增强污染材料测量装置的测量方法，其特征在于：步骤（1）所述样品为非金属材料。

5.根据权利要求3所述的采用紫外增强污染材料测量装置的测量方法，其特征在于：步骤（4）所述样品台（4）的加热温度为125℃。 

6.根据权利要求3所述的采用紫外增强污染材料测量装置的测量方法，其特征在于：步骤（4）所述读数时间为开始冷凝24h后。