[发明专利]一体式智能卡封装系统及封装方法在审

专利信息
申请号: 201210486637.7 申请日: 2012-11-21
公开(公告)号: CN102945817A 公开(公告)日: 2013-02-27
发明(设计)人: 兰荣 申请(专利权)人: 兰荣
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/66;H01R43/02;G06K19/077
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地址: 443208*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 体式 智能卡 封装 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及带RFID芯片的智能卡技术领域,特别涉及带RFID芯片的智能卡封装和检测的一体式智能卡封装系统及封装方法。

背景技术

现有的智能卡是在卡体内设置有智能芯片,其智能芯片的主要包括接触式和非接触式两种,非接触式主要是采用感应技术,主要由芯片和感应天线组成,可以完全藏于卡体内。

目前的非接触式智能卡在制造过程中,通常是需要将设于基板的感应天线与芯片电连接,即采用碰焊将天线与芯片连接形成一个电回路。在智能卡封装过程中,通常是在对一个RFID大板(由数个智能卡面积大小,即未分割成智能卡前的基板)上的每个天线与对应的芯片碰焊完成后再将整个RFID大板取出后检测天线与芯片是否导通,由于需要将RFID大板取出后检测其效率较低,同时也无法及时对电连接不良的天线与芯片进行再将碰焊。

发明内容

本发明主要解决的技术问题是提供一种一体式智能卡封装系统,该一体式智能卡封装系统可以在碰焊的同时进行检测,提高检测的效率,可以及时对天线与芯片进行焊接。

为了解决上述问题,本发明提供一种一体式智能卡封装系统,该一体式智能卡封装系统包括碰焊装置和设于该碰焊装置碰焊头正下方的芯片检测装置及控制碰焊装置与芯片检测装置协调工作的主控制器,其中所述芯片检测装置包括设于碰焊台的芯片检测控制器,该芯片检测控制器与呈矩阵分布且实时采集碰焊台上芯片与天线导通情况的芯片检测探头电连接,以及与芯片检测探头对应的指示装置;在所述芯片与天线在碰焊装置碰焊完成的同时所述芯片检测探头实时采集该芯片的信号检测芯片与天线是否导通,并通过指示装置输出相应的检测结果。

进一步地说,所述智能卡封装系统还包括与主控制器电连接的涂标记装置,该涂标记装置包括与碰焊头连接的汽缸,该汽缸的输出端设有印迹块,当所述天线与芯片未形成电回路时,由所述主控制器输出控制信号给气动控制部件使汽缸输出端向下移动至印迹块与智能卡基板接触形成印迹。

进一步地说,所述印迹块为柔软材质,包括硅胶或海棉。

进一步地说,所述涂标记装置还包括与印迹块连通的顔料筒。

进一步地说,所述智能卡封装系统还包括对焊点进行采集的摄像头和相片进行分析的相片分析模块,当碰焊后芯片与天线未连接时触发控制器控制摄像头对该碰焊点进行拍照,并由相片分析模块输出结果,再由控制器根据该结果控制碰焊装置是否对该焊点重新碰焊作业。

本发明还提出一种智能卡封装方法,该智能卡封装方法包括:

绕天线步骤,将绝缘的导线绕成线圈并固定于智能卡基板上;

埋芯片步骤,将芯片固定在基板上;

碰焊步骤,将芯片和天线的线圈通过高压放电的方式焊接形成电回路;

检测步骤,在碰焊的同时实时检测芯片与天线线圈是否连接导通。

进一步地说,所述检测步骤后还包括作标记步骤,当所述芯片与天线线圈未连接形成电回路时,在当前未导通的芯片与天线线圈对应位置涂上标记。

本发明还提出一种智能卡封装方法,该智能卡封装方法包括:

埋芯片步骤,将芯片固定在基板上;

绕天线步骤,将绝缘的导线绕成线圈并固定于智能卡基板上;

碰焊检测步骤,将芯片和天线的线圈通过高压放电的方式焊接形成电回路,在将芯片与天线线圈通过碰焊进行焊接的同时由检测装置实时测检芯片与天线线圈是否连接导通。

进一步地说,所述检测步骤后还包括作标记步骤,当所述芯片与天线线圈未连接形成电回路时,在当前未导通的芯片与天线线圈对应位置涂上标记。

本发明一体式智能卡封装系统,包括碰焊装置和设于该碰焊装置碰焊头正下方的芯片检测装置及控制碰焊装置与芯片检测装置协调工作的主控制器,其中所述芯片检测装置包括设于碰焊台的芯片检测控制器,该芯片检测控制器与呈矩阵分布且实时采集碰焊台上芯片与天线导通情况的芯片检测探头电连接,以及与芯片检测探头对应的指示装置;在所述芯片与天线在碰焊装置碰焊完成的同时所述芯片检测探头实时采集该芯片的信号检测芯片与天线是否导通,并通过指示装置输出相应的检测结果。由于所述系统在将天线线圈与芯片连接碰焊的同步实现对天线线圈与芯片连通进行检测,提高检测效率。同时在天线线圈与芯片未形成电回路时由涂标记装置应时在对应位置涂上标记,可以在后序的制程中分离连接良品。

附图说明

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