[发明专利]基于专用芯片的接口信号质量的测试方法及系统有效
申请号: | 201210441751.8 | 申请日: | 2012-11-08 |
公开(公告)号: | CN103200040A | 公开(公告)日: | 2013-07-10 |
发明(设计)人: | 邱建峰;梁芳 | 申请(专利权)人: | 盛科网络(苏州)有限公司 |
主分类号: | H04L12/26 | 分类号: | H04L12/26 |
代理公司: | 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 | 代理人: | 杨林洁 |
地址: | 215021 江苏省苏州市苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 专用 芯片 接口 信号 质量 测试 方法 系统 | ||
技术领域
本发明涉及网络通信领域技术,尤其涉及一种基于专用芯片的接口信号质量的自动测试方法及相关系统。
背景技术
目前,数据通信设备厂商的交换机设备在研发和生产过程中,通常需要关注到交换芯片与其他芯片之间物理接口的信号质量是否符合要求,以避免因交换机设备上的交换芯片信号质量不合格,影响交换机设备的基本功能及性能。
现有技术中,设备厂商为了验证芯片物理接口的信号质量,普遍做法是采购价格极其昂贵的逻辑分析仪,通过逻辑分析仪的测量数据来分析信号质量。然而,专用于信号测试的逻辑分析仪价格不菲,无疑增加厂商的投入成本,并且在交换设备研发及生产阶段频繁使用逻辑分析仪,易导致仪器损坏。随着目前交换芯片更新换代,物理接口速度不断提高,逻辑分析仪也必须进行相应的升级,才能对高频信号进行分析,其带来的成本代价直线上升,更为重要的是,此类逻辑分析仪需要人工参与,易出错,难以满足设备大批量生产需求。
因此,非常有必要提供一种新的芯片接口信号质量的测试方法以应对上述技术问题。
发明内容
本发明所需解决的技术问题在于提供一种基于专用芯片的接口信号质量的自动测试方法,以较低的成本应对设备大批量生产需求。
相应地,本发明还提供一种基于专用芯片的接口信号质量的自动测试系统。
为解决上述技术问题,本发明所采取的技术方案为:
一种基于专用芯片的接口信号质量的测试方法,其包括如下步骤:
S1、获取所述专用芯片上各物理接口对应的信号眼图模板;
S2、逐一选定该专用芯片的物理接口作为被测对象,启动所述专用芯片自身的信号采集功能,以采集该物理接口上对应于不同时间点的多组眼高、眼宽数据,并根据所述多组眼高、眼宽数据绘制对应于该物理接口的信号眼图;
S3、将所测物理接口的信号眼图与其对应的信号眼图模板相比较,判断所测物理接口的信号眼图的轨迹处于相应的眼图模板外围,若是,则该物理接口的信号质量符合预定要求;若否,则该物理接口的信号质量不符合预定要求。
作为本发明的进一步改进,所述步骤S2还具体包括:设置当前待测物理接口所对应的信号采样频率。
作为本发明的进一步改进,所述步骤S2中“绘制物理接口信号眼图”的步骤具体包括:启动信号抓取动作,并以启动时间点为中点;获取所述启动时间点的瞬时眼高、瞬时眼宽数据,并以此该中点为参考点,设置多个采集时间点,分别采集各时间点所对应的眼高、眼宽数据;将所采集的数据进行单位换算,计算出与逻辑分析仪参考单位相一致的标准数据,并根据所有时间点的标准数据描绘眼图的轨迹。
作为本发明的进一步改进,该方法还包括:获取被测物理接口的编号;将被测物理接口的编号及该接口的测试结果相关联,并保存于测试记录中。
作为本发明的进一步改进,所述专用芯片包括自带信号采集功能的ASIC芯片、FPGA芯片。
此外,本发明提供的一种基于专用芯片的接口信号质量的测试系统,其包括如下单元:
眼图模板匹配单元、用于获取所述专用芯片上各物理接口对应的信号眼图模板;
眼图测试单元、用于逐一选定该专用芯片的物理接口作为被测对象,启动所述专用芯片自身的信号采集功能,以采集该物理接口上对应于不同时间点的多组眼高、眼宽数据,并根据所述多组眼高、眼宽数据绘制对应于该物理接口的信号眼图;
眼图比对单元、用于将所测物理接口的信号眼图与其对应的信号眼图模板相比较,判断所测物理接口的信号眼图的轨迹处于相应的眼图模板外围,若是,则该物理接口的信号质量符合预定要求;若否,则该物理接口的信号质量不符合预定要求。
作为本发明的进一步改进,所述眼图测试单元还包括一用于设置当前待测物理接口所对应的信号采样频率的测试模式设置单元。
作为本发明的进一步改进,所述眼图测试单元中“绘制物理接口信号眼图”的具体过程包括:启动信号抓取动作,并以启动时间点为中点;获取所述启动时间点的瞬时眼高、瞬时眼宽数据,并以此该中点为参考点,设置多个采集时间点,分别采集各时间点所对应的眼高、眼宽数据;将所采集的数据进行单位换算,计算出与逻辑分析仪参考单位相一致的标准数据,并根据所有时间点的标准数据描绘眼图的轨迹。
作为本发明的进一步改进,该系统还包括测试记录单元,其用于:获取被测物理接口的编号,并将被测物理接口的编号及该接口的测试结果相关联,并保存于测试记录中。
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