[发明专利]基于专用芯片的接口信号质量的测试方法及系统

权利要求书

1.一种基于专用芯片的接口信号质量的测试方法，其特征在于，其包括如下步骤：

S1、获取所述专用芯片上各物理接口对应的信号眼图模板；

S2、逐一选定该专用芯片的物理接口作为被测对象，启动所述专用芯片自身的信号采集功能，以采集该物理接口上对应于不同时间点的多组眼高、眼宽数据，并根据所述多组眼高、眼宽数据绘制对应于该物理接口的信号眼图；

S3、将所测物理接口的信号眼图与其对应的信号眼图模板相比较，判断所测物理接口的信号眼图的轨迹处于相应的眼图模板外围，若是，则该物理接口的信号质量符合预定要求；若否，则该物理接口的信号质量不符合预定要求。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述步骤S2还具体包括：

设置当前待测物理接口所对应的信号采样频率。

3.根据权利要求1或2所述的测试方法，其特征在于，所述步骤S2中“绘制物理接口信号眼图”的步骤具体包括：

启动信号抓取动作，并以启动时间点为中点；

获取所述启动时间点的瞬时眼高、瞬时眼宽数据，并以此该中点为参考点，设置多个采集时间点，分别采集各时间点所对应的眼高、眼宽数据；

将所采集的数据进行单位换算，计算出与逻辑分析仪参考单位相一致的标准数据，并根据所有时间点的标准数据描绘眼图的轨迹。

4.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，该方法还包括：

获取被测物理接口的编号；

将被测物理接口的编号及该接口的测试结果相关联，并保存于测试记录中。

5.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述专用芯片包括自带信号采集功能的ASIC芯片、FPGA芯片。

6.一种基于专用芯片的接口信号质量的测试系统，其特征在于，其包括如下单元：

眼图模板匹配单元、用于获取所述专用芯片上各物理接口对应的信号眼图模板；

眼图测试单元、用于逐一选定该专用芯片的物理接口作为被测对象，启动所述专用芯片自身的信号采集功能，以采集该物理接口上对应于不同时间点的多组眼高、眼宽数据，并根据所述多组眼高、眼宽数据绘制对应于该物理接口的信号眼图；

眼图比对单元、用于将所测物理接口的信号眼图与其对应的信号眼图模板相比较，判断所测物理接口的信号眼图的轨迹处于相应的眼图模板外围，若是，则该物理接口的信号质量符合预定要求；若否，则该物理接口的信号质量不符合预定要求。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述眼图测试单元还包括一用于设置当前待测物理接口所对应的信号采样频率的测试模式设置单元。

8.根据权利要求6或7所述的测试系统，其特征在于，所述眼图测试单元中“绘制物理接口信号眼图”的具体过程包括：

启动信号抓取动作，并以启动时间点为中点；

获取所述启动时间点的瞬时眼高、瞬时眼宽数据，并以此该中点为参考点，设置多个采集时间点，分别采集各时间点所对应的眼高、眼宽数据；

将所采集的数据进行单位换算，计算出与逻辑分析仪参考单位相一致的标准数据，并根据所有时间点的标准数据描绘眼图的轨迹。

9.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，该系统还包括测试记录单元，其用于：获取被测物理接口的编号，并将被测物理接口的编号及该接口的测试结果相关联，并保存于测试记录中。

10.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，该测试系统中的专用芯片包括自带信号采集功能的ASIC芯片、FPGA芯片。