[发明专利]阵列基板及其制造方法、显示装置有效
申请号: | 201210436673.2 | 申请日: | 2012-11-05 |
公开(公告)号: | CN102931139A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 孙双;崔承镇 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77;H01L27/02;H01L29/786 |
代理公司: | 北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 | 代理人: | 申健 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 及其 制造 方法 显示装置 | ||
1.一种阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:
在基板上形成包括栅极的图形;
形成包括栅绝缘层、有源层、数据线、漏源中间图形;
形成包括第一透明电极的图形;
在钝化层上形成对应TFT沟道区域的间隔图形;
形成具有狭缝的第二透明电极的图形,将漏源中间图形打开间隔,形成漏极、源极和TFT沟道的图形。
2.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于:形成包括栅绝缘层薄膜、有源层薄膜、漏源金属薄膜,通过一次构图工艺,形成包括栅绝缘层、有源层、数据线、漏源中间图形。
3.根据权利要求1所述的制造方法,其特征在于:所述在所述基板上形成包括第一透明电极的图形的步骤,具体包括:
在所述基板上沉积第一透明电极层薄膜;
通过一次构图工艺,对所述第一透明电极层薄膜进行构图,形成包括第一透明电极的图形。
4.根据权利要求3所述的制造方法,其特征在于:所述在所述基板上沉积第一透明电极层的步骤之前还包括:在所述基板上沉积树脂层薄膜;
则在所述第一透明电极层上形成所述第一透明电极的图形的同时,在所述第一透明电极层上形成过孔区域图形;
所述对需要形成TFT沟道的TFT间隔区域的所述钝化层进行构图的步骤的同时,在所述钝化层形成对应TFT沟道区域的间隔图形和过孔区域图形;
进一步包括:对所述过孔区域和所述TFT沟道区域的所述树脂层进行构图,在所述树脂层上形成对应TFT沟道区域的沟道图形和过孔区域图形;
所述在所述基板上沉积第二透明电极层,并通过一次构图工艺,形成具有狭缝的第二透明电极的图形的同时,还形成连接电极的图形;其中,所述连接电极位于所述过孔区域,用于电连接所述第一透明电极与所述漏极。
5.根据权利要求3所述的制造方法,其特征在于:所述在所述基板上沉积第一透明电极层的图形的步骤之前还包括:在所述基板上沉积树脂层薄膜;
则所述对需要形成TFT沟道的TFT间隔区域的所述钝化层进行构图的步骤的同时,还对第一过孔区域和第二过孔区域的所述钝化层进行构图;其中,所述第一过孔区域位于所述第一透明电极层上方,所述第二过孔区域位于所述漏极上方;
进一步包括:对所述TFT沟道区域和所述第二过孔区域的所述树脂层进行构图,在所述树脂层上形成对应TFT沟道区域的间隔图形和第二过孔区域图形;
所述在所述基板上沉积第二透明电极层,并通过一次构图工艺,对所述第二透明电极层进行构图,形成第二透明电极的图形的步骤的同时,还形成连接电极的图形;其中,所述连接电极连通所述第一过孔区域和所述第二过孔区域,用于电连接所述第一透明电极与所述漏极。
6.根据权利要求4或5所述的制造方法,其特征在于:所述树脂层的厚度为1.5至2.0μm。
7.一种阵列基板,所述阵列基板包括栅极、栅线、栅绝缘层、有源层、漏极、源极、数据线;
其特征在于:所述源极、漏极上包括树脂层、第一透明电极、钝化层、第二透明电极层;其中,所述第二透明电极层包括具有狭缝的第二透明电极和连接电极;
还包括过孔,形成在所述树脂层和所述钝化层中,所述连接电极位于所述过孔中;
所述第一透明电极与所述漏极通过所述连接电极形成电连接。
8.根据权利要求7所述的阵列基板,其特征在于:所述过孔穿过所述第一透明电极,所述第一透明电极在所述过孔的侧壁与所述连接电极形成电连接,所述漏极在所述过孔的底部与所述连接电极形成电连接。
9.根据权利要求7所述的阵列基板,其特征在于:所述过孔具体包括第一过孔和第二过孔;其中,所述第一过孔形成在所述钝化层中,且露出所述第一透明电极;所述第二过孔形成在所述钝化层和所述树脂层中,并露出所述漏极;
所述连接电极的一端在所述第一过孔中与所述第一透明电极形成电连接,所述连接电极的另一端在所述第二过孔中与所述漏极形成电连接。
10.一种显示装置,其特征在于:包括权利要求7-9任一项所述的阵列基板。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造