[发明专利]一种OTDR测试曲线降噪的方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及OTDR(Optical Time Domain Reflectometer，光时域反射仪)技术领域，尤其涉及对OTDR输出的OTDR测试曲线进行降噪的方法和装置。

背景技术

OTDR是利用光线在光纤中传输时的瑞利散射和菲涅尔反射所产生的背向散射而制成的精密的光电一体化仪表，OTDR测试是通过发射光脉冲到光纤内，然后在OTDR端口接收返回的信息来进行。当光脉冲在光纤内传输时，会由于光纤本身的性质，在前端连接器，接合点，弯曲或其它类似的事件而产生散射，反射，其中一部分的散射和反射就会返回到OTDR中。返回的有用信息由OTDR的探测器来测量，它们就作为光纤内不同位置上的时间或曲线片断。从发射信号到返回信号所用的时间，再确定光在玻璃物质中的速度，就可以计算出距离。目前，OTDR已被广泛应用于光缆线路的维护、施工之中，可进行光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。

OTDR输出的OTDR的测试曲线通常被用来判断一条光缆的使用状况，如图1所示，从曲线中的事件点信息，可以判断出光缆中的跳接点或者结尾点的具体位置。

然而，由OTDR测出的原始曲线噪声较大，尤其是FTTx(Fiber-to-the-x，光纤接入)线路中使用的光分路器，产生了巨大的插损，从而使OTDR的信噪比SNR大大降低，对OTDR曲线事件点的寻找算法的准确率有着较大的影响。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的缺陷，提供一种对OTDR测试曲线降噪的方法和装置，以降低OTDR曲线中噪声，提高OTDR曲线的信噪比SNR以及寻找曲线中的事件点的效率和准确性。

为实现上述目的，本发明提出如下技术方案：一种OTDR测试曲线降噪的方法，其包括如下步骤：

S1，将OTDR测试曲线点序列进行时域变换频域的离散傅里叶变换；

S2，将OTDR曲线进行低通滤波处理，将曲线中的高频部分过滤，得到低频部分的曲线；

S3，将滤波后的曲线进行离散傅里叶逆变换，将曲线还原至时域下的OTDR曲线。

更进一步地，所述Sl中将OTDR曲线进行离散傅里叶变换的方式为：

x^[k]=Σn=0N-1e-t2πNnkx[n]]]>k＝0，1，...，N-1.

其中是曲线点序列，N为曲线的点数，e是自然对数的底数，i是虚数单位。

所述S2中过滤OTDR曲线中高频部分后得到低频部分的曲线的频率特征为：

所述S3中经频域中处理后还原至时域下的OTDR曲线为：

x[k]=Σn=0N-1ei2πNnkx^[n]]]>n＝0，1，...，N-1.