[发明专利]一种OTDR测试曲线降噪的方法和装置

权利要求书

1.一种OTDR测试曲线降噪的方法，其特征在于包括：

S1，将OTDR测试曲线点序列进行时域变换频域的离散傅里叶变换；

S2，将OTDR曲线进行低通滤波处理，将曲线中的高频部分过滤，得到低频部分的曲线；

S3，将滤波后的曲线进行离散傅里叶逆变换，将曲线还原至时域下的OTDR曲线。

2.根据权利要求1所示的方法，其特征在于：所述S1中将OTDR曲线进行离散傅里叶变换的方式为：

x^[k]=Σn=0N-1e-t2πNnkx[n]]]>k＝0，1，...，N-1.

其中是曲线点序列，N为曲线的点数，e是自然对数的底数，i是虚数单位。

3.根据权利要求1所示的方法，其特征在于：所述S2中过滤OTDR曲线中高频部分后得到低频部分的曲线的频率特征为：

G(iω)=∫-∞+∞e-ktze-iωtdt]]>

4.根据权利要求1所示的方法，其特征在于：所述S3中经频域中处理后还原至时域下的OTDR曲线为：

x[k]=Σn=0N-1ei2πNnkx^[n]]]>n＝0，1，...，N-1.

5.一种OTDR测试曲线降噪的装置，其特征在于包括：

OTDR曲线时域变换频域模块，用于将OTDR曲线进行离散傅里叶变换，使得曲线的点序列从时域转变为频域；

低通滤波模块，用于将转变至频域下的OTDR测试曲线中高频部分过滤；以及

OTDR曲线频域逆变时域模块，用于将经过高频滤波的曲线进行离散傅里叶逆变换，将曲线还原至时域下的OTDR曲线。