[发明专利]LED老化测试系统及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及LED光电测试技术领域，更具体地讲，涉及一种LED老化测试系统及其测试方法。

背景技术

LED具有功率小且寿命长，尤其在节能方面特别突出。适逢当前能源紧张，LED的发展得到国家的大力支持，在这几年发展得特别快。LED在照明方面应用非常广泛，其中涉及到商业、家庭、汽车照明等领域。

通常在理论上，LED的使用寿命可以达到10万小时，过去几年，我们接触到的LED产品，寿命都很短，包括路灯、台灯、光管等，很多LED灯在点亮很短的时间后就出现亮度变暗、亮度不均匀、颜色变化、甚至不发光的现象。这有多方面的原因，比如控制线路、散热设计等都会引起上述现象的发生，但有一个主要的原因就是LED本身的问题，同时这也是制约了LED行业的发展。

目前，针对LED灯本身存在的问题，业界通常采用在LED上产线前，对其进行老化测试，其方法为把点亮的LED放在烤箱或冰箱里，以正向恒定电流方式或正向脉冲电流方式去点亮LED一段时间，然后把LED从烤箱或冰箱的老化环境温度里取出，再到常温条件下的测试仪器上去测LED的参数。这些测试参数包括正向压降值、反向漏电值、亮度值与颜色等参数。测试完后把参数不合格的LED灯挑出来，但经过这种测试挑选出的LED在正式做成灯饰成品后，LED还是会出现前述的不良现象。原因为目前老化与测试LED是分开进行的，忽略了LED本身有特定的温度特性；在不同的温度下，其正向压降值和反向漏电值是不同的，目前这种老化方式及测试方式没有全面考虑到LED的温度特性与LED正向压降和反向漏电的测试方法，并且在老化过程中数次要把灯取出，测量参数，再放回去继续老化，效率不高。

因此，需要一种LED老化测试系统及其测试方法，采用新的老化方式及测试方式以解决上述现有技术所存在的问题。

发明内容

本发明的目的在于提供一种LED老化测试系统，在老化的过程中在线测试多颗LED的参数，其次能够对多颗LED批量地以一预设冲击频率进行多次反向冲击老化来测试多颗LED的反向漏电值，更加准确地挑出有漏电隐患或漏电值不稳定的LED，最后能够对多颗LED以一设定的交替频率进行正反向冲击交替老化，功能更全面，效率更高。

为了实现上述目的，本发明提供了一种LED老化测试系统，该测试系统包括：

可视化人机交互模块，用于选择一测试模式并输入与其对应的测试参数，显示所述测试模式和/或所述测试参数；

微处理器模块，用于接收所述测试模式及对应的测试参数，计算所述测试参数得到计算结果并将其输出；

被测试模块，用于接收所述计算结果并实现与所述测试模式相对应的被测试模式，得到被测试参数并将其输出；

测试模块，用于接受所述微处理器模块的控制并根据接收到的所述被测试参数测试所述被测试模块得到模拟测试结果，所述模拟测试结果经由所述微处理器模块读取并处理为数字测试结果，所述数字测试结果输出到所述可视化人机交互模块并由其显示。

进一步地，所述测试系统还包括温度控制模块，用于设定温度控制模式对所述被测试模块进行温度控制，其中，所述温度控制模式选择为常温、低温、高温或高低温循环模式之一。

进一步地，所述被测试模块包括多路可控恒流源、多路可控电压源、多路可控开关和多路LED老化测试座；所述微处理器模块输出所述计算结果到多路可控恒流源和多路可控电压源，并控制多路可控恒流源的使能端或多路可控电压源的使能端、多路可控开关以一设定的交替频率对多路LED老化测试座进行正向电流、反向电压交替老化，且使多路LED老化测试座实现与所述测试模式相对应的被测试模式。